持续的芯片内监控如何揭示优化性能和在故障发生之前解决故障的方法。
每个集成电路(IC)都有一生的故事要讲。从设计到芯片寿命的结束，它可以让我们知道整个过程中发生了什么，只要我们给它一个声音和语言来这样做。但在我们能够获得这些数据之前，这些ic的生活仍然是秘密。芯片内监控揭示了这些秘密。它有助于优化性能，对于不能出现故障的应用程序尤其有用。我们可以确保每个芯片在预期范围内运行，如果随着时间的推移开始退化，在故障发生之前更换它。
您可能会说，这些数据中的大部分已经可用，无需持续监控。从设计数据到制造测试数据，存在大量的数字，这些数字讲述了一个有价值的故事。但这些数据池都被隔离在不同的地方，用不同的术语表达，而且不完整，因此实际上不可能从中学到东西。此外，它们是间接的，并不直接表明某个事件或现象，而是该事件对其他事物的影响(例如，温度升高表明存在问题)。当然，在设备运行时，他们对设备只字未提。
在测试和实际操作期间使用的实时芯片内监控系统，提供了在整个生命周期内评估芯片健康状况和性能的可见性和通用语言。
三个(或更多)数据竖井，其中一个是空的
集成电路的生命周期有三个孤立的阶段:芯片设计、制造(芯片和系统)和现场操作。每一个都有可能告诉我们关于芯片的一些信息。其中两个已经做到了，但有很大的局限性。
设计阶段没有告诉我们任何关于特定芯片的信息，但它确实设定了芯片应该如何表现的预期，以及预期的利润率。这些数据以一种由芯片设计工具创建和使用的格式存在。
然后，芯片被制造出来并插入到一个系统中。芯片在出售之前要经过测试，嵌入这些芯片的系统可能要经过许多级别的测试——模块测试、电路板测试、机架测试、系统测试、系统的系统测试。所有这些测试的结果都是收集数据。
芯片测试，无论是晶圆排序测试还是最终测试，都可以产生大量的数据。但从实际的角度来看，测试需要快速完成，因此许多测试都是在通过/失败的基础上进行的，而没有实际报告数字。例如，通过在限定时间内采样信号来测试信号延迟，以查看信号转换是否正确完成。如果是，那么测试就通过了——没有测量转换实际发生的时间。你只知道它足够快。你不知道那有多快。你可以通过数据记录获得更详细的数据，但我们通常不会在生产过程中这样做，因为这需要很长时间。任何数据，详细与否，将在芯片测试仪的格式。
系统测试的操作类似，除了您可以访问的芯片信息更少，因为它不再是孤立的可测试。引脚连接到电路板上的其他组件，这限制了我们可以测量的范围。这些测试的数据当然是可用的，但它对评估芯片本身的帮助不大。相比之下，如果芯片内部数据可用，不仅可以深入了解自身的运行情况，还可以了解与芯片交互的系统部分。然而，就目前的情况而言，任何记录的数据都只反映已建立的系统测试点，并且是各种系统测试机器的格式。这些可能彼此不同，而且它们与芯片测试器绝对不同。总而言之，制造的各个阶段创造了几个迷你数据筒仓，每个筒仓都有自己的格式。
最后是实时操作，目前还没有这一阶段的数据。这里采集的数据可以提供系统及其环境如何影响芯片的关键见解。如果没有这些数据，如果系统将要发生故障，直到它真的发生故障，您才会知道。
因此，我们有两个机会进行数据监控——制造和现场，以及在设计时建立的基线。现有的制造数据格式都是不同的，没有一个与基线兼容。现场监测的机会仍未实现。
弥合隔阂
proteanTecs通过全面学习和分析芯片的设计，并在设计阶段创建和插入代理来解决这个问题。代理不断地创建新的数据，这些数据通过服务器上的相应算法上传和推断，将测量结果转化为有意义的情报。代理伴随着芯片的整个生命周期-在生产、系统集成和现场操作期间监控电子系统的健康状况和性能。在云端或服务器群中，从芯片到服务器的通信是通过测试设备或内置在终端系统中的通信机制进行的。
所有数据(预期的和实际的)都驻留在同一个存储库中，而不是单独的部分数据筒仓。由于所有数据都由相同的物理传感器采集，并在机器学习数据分析系统中进行推断，因此所有数据都使用同一种语言，因此可以交叉链接利润率、趋势和老化。这种新创建的语言基于内在相关性，为整个价值链的新级别可见性提供反馈和前馈见解。它允许服务器算法通过跟踪芯片历史的趋势来警告故障，以便在故障发生之前解决任何即将发生的问题。
proteanTecs让这些芯片在它们的生命周期中讲述它们的故事。设计师、生产工程师和服务提供者可以监控重大和次要的生命事件，在需要时进行干预并采取行动。
有关更多信息，请访问proteanTecs网站．
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