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白皮书

表征新兴存储器的短流量测试阵列的设计和测量要求

如何使用交叉点阵列方法对内存阵列进行基于短流的描述以降低成本。

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新兴的非易失性存储器对于嵌入式和存储类应用越来越有吸引力。后端集成存储单元的开发面临的挑战是学习周期长和晶圆成本高。我们提出了一种基于短流的描述内存阵列使用交叉点阵列的方法。详细的设计需求和可测试性分析证实了基于短流程的解决方案的可行性,以减少周转时间和开发成本。

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