设计和测量要求短流测试数组来描述新兴的记忆


新兴的非易失性记忆越来越有吸引力为嵌入式和存储类应用程序。后端集成的发展挑战记忆细胞是学习周期长、晶片成本高。我们提出一个基于短流程描述内存数组使用交叉点数组的方法。详细分析设计需求和可测试性证明有限元分析……»阅读更多

内存中计算挑战成为舆论焦点


在过去的几十年里,在计算性能已经通过处理大批量数据更快和优越的精度。内存和存储空间是以g和t现在,不是千字节,字节。处理器运行在64位而不是8位的数据块。然而,半导体行业的能力来创建和收集高质量……»阅读更多

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