设计和测量要求短流测试数组来描述新兴的记忆


新兴的非易失性记忆越来越有吸引力为嵌入式和存储类应用程序。后端集成的发展挑战记忆细胞是学习周期长、晶片成本高。我们提出一个基于短流程描述内存数组使用交叉点数组的方法。详细分析设计需求和可测试性证明有限元分析……»阅读更多

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