大规模并行测试的时间

时间就是金钱在电子技术中,在其他行业,投资于测试芯片的更多的时间意味着更多的被添加到产品成本的问题。加快测试存储设备和其他半导体测试设备厂商采取并行测试技术,同时测试多个芯片。

业界也转向系统级测试,被视为新一代的电子产品的关键等移动设备和可穿戴电子产品。如果芯片通过常规in-socket测试,然后失败时的最终用途的产品,这是必须花更多的时间去找出故障发生的原因。这意味着更多的钱。

测试的成本一直是芯片业务的关注。自动化测试设备的出现在一定程度上解决这个问题。作为芯片变得更加复杂,不同类型的设备出现了,吃了不得不适应变化,并导致更多的工作在测试处理程序,自动进料芯片测试人员。

内存芯片往往是最简单的芯片测试,并使用并行测试网站第一次去记忆。网站的数量从8到16到32到64,现在他们一直延伸到256年和512年的网站。

吃了,针对测试技术估计解决测试设备的测试覆盖率99.5%。这听起来好像很多,它代表了一个好的一步半导体质量控制的目标。不过,代表了很多失败,0.5%部分数百万芯片的生产。

图1:测试在每个新节点差距的拉大。来源:天体电子学

“在我看来,有两种不同的轨迹前进,”阿尼尔Bhalla)说,高级经理在天体电子学测试系统。“在吃,并行测试从2到4到16个,时间你可以做32和64(网站)。很多是取决于你的仪表。你有一个固定的测试头的大小,和吃供应商继续添加更多的数字针和网站。它的进化方式。系统级测试区域,该行业所做的同样的事情,安排到16或32个站点并行”。

天体电子学使用一种不同的架构,一个本质上slot-based,并行,可以去396网站。

“这是一个显著的不同类型的系统,能够使人想做在高容量系统级测试得到一些非常令人兴奋的cost-of-test削减,”巴拉说。“一些其他方法直到现在一直在吃系统有限插槽的数量和测试头的大小。他们做不同的实例化,如果你进入射频,那么射频变得昂贵。就很难得到本质上是平行的。我们所做的是一个非常不同的方法,我们有槽和房间,并且相当容易到达更高级别的并行性”。

真正的测试成本
计算的真正测试涉及资本支出和运营成本支出。因此大规模并行测试人员可能可以代替其他系统级芯片的测试系统,这意味着更少的测试台空间和更少的操作符。但仍有知觉,系统级测试太贵,即使人们日益认识到,它正变得越来越必要。

“人们试图测试的设备变得更加复杂,”巴拉说。“如果你看看手机的处理器,例如,函数的数量和模拟设备,采取电话发送短信在你的手机上做的东西在网络上许多复杂的场合,可以发生在一个设备在任何时候变得非常复杂。这是测试一个吃模式变得非常困难。我们看到在系统级测试是能够测试设备在本土环境。您可以测试高速通道。通常你可以写模式,可以同时测试多个函数。和你开始发现良好的价值测试之前会有很大影响,在积极的意义上,在你的底线。”

质量控制尤为重要芯片用于对安全性要求苛刻的应用,如在汽车和医疗市场。系统级测试允许汽车ICs的热测试,例如,看到他们在冷热环境中执行。

并行测试在模拟市场上很好理解,根据乔伊桶,主要市场为自动化测试开发经理国家仪器。倪是集中在模拟和混合信号芯片的测试;射频集成电路和MEMS传感器公司的专业。

“在射频,我们所做的不一定是平行的,“桶说。“很难用射频做平行试验。“不过,8个并行测试网站通常是适应与NI的模拟和混合信号测试系统。

图2:测试射频集成电路。来源:倪

“在另一端是MEMS桶继续,涉及带钢处理并行测试。微机电系统设备可以并行测试的数字大于射频集成电路,从几十到几百年过去,到今天的200年代中期。

倪并行测试不仅仅是一个数字游戏,。公司更关心的是平行测试efficiency-how芯片处理程序和测试人员提供最大的效率。事实上,9的倪客户感兴趣的芯片测试会选择镍的测试系统,而其他人使用NI的构建自己的软件和仪器。

“并行测试的软件仍然是一个重大的挑战,“桶说。“这可以令人生畏的并行测试。”

斯科特•西效果显著的系统级测试,产品营销经理谈到他公司的能力测试固态硬盘,数据存储设备的基础上与非闪存芯片,系统级测试的一个例子。经过多年的缓慢采用消费者和企业,ssd的需求猛增,导致供应短缺的NAND闪存记忆和ssd企业数据中心在过去的几个月里。

“SSD,现在有一些有趣的事情,”西说。“ssd已经存在了一段时间了,但在非常低的体积。这是有点狂野西部。如果你看着它10年前左右,每个人都试图找出ssd是什么。和测试设备已经喜欢它总是在第一位。适应这台设备,然后对系统级测试往往需要设备的最终用途和用它来测试——motherboard-based测试。你建立了一个主板,运行特殊的国产软件来确保设备工作时,当你把它插到计算机上。被挤掉了旨在测试相同的结构,但是现在,而不是一个完整的PC,它变成了主板和特殊的软件。但这并不规模以及市场真的成长。”

固态硬盘市场迅速扩张。“波特正在急剧上涨,所以拥有一个主板测试每个设备的实用性,甚至几个设备连接到一个单一的主板,成为一个真正的飞跃,”他说。“它背后的软件不工作。它不很好地伸缩。这就是自动化测试设备行业和扮演一个角色。我们可以赚更多的定制软件。它不再是主板上的个人电脑。真的只是为了测试,提供的所有资源、能力测试,这是必要的,在一个紧凑的形式。这正是所需的测试”。

西方的反应减少测试台的大小。“你的地板空间,当然,是有成本的。每DUT”有“测试人员”成本计算,实现架构,甚至可以大容量的成本测试的芯片,他补充道。

针对测试技术在ssd是“没有”,行政效果显著。“所以这设备需要什么呢?这并不是说有一个整体的生态系统。我希望,在未来十年左右的系统级测试。将会有更多的整合。它将相当于设计测试,使用系统级测试与芯片级,已在那里。在芯片层面,没有人会提出一个吃不已经做测试,因为那些对话已经发生在整个装置的设计。这不是真的还在SSD级别。”

虽然有一定程度的吃了供应商和客户之间的技术合作,这种关系在多大程度是有限的。“现在的障碍是每个人都有自己的秘密武器,“西补充道。“这是必须的东西下来。独特的ssd和芯片测试的东西。数据安全是一个大的一部分。你不能你的IP泄漏风险。”

显著有稳定的客户基础以外的系统级测试。该公司一直在与相同的基约二十年。不过,SSD是一个完全不同的故事。“我们古老的SSD的关系还不到五年,”西说,添加SSD制造业部门可能在英特尔和三星和通常由不同的人比芯片测试人员。

迈克尔•弗雷泽Xcerra的全球业务发展高级总监,曾担任测试工程师在高级微设备公司。单测试的顺序天时候AMD是制造和测试自己的芯片。

多站点测试已经超越单一的网站,当然可以。虽然多站点并行测试每小时可以把更多的单位,这样的测试细胞更昂贵的装备和操作,增加接触器和负载板,根据弗雷泽。

(本周Xcerra同意被收购尤尼克公司资本管理约5.8亿美元的现金,嘉汉IC的附属资本。该交易预计将在今年年底前,将受到外国投资委员会审查在美国由于中国IC资本的银行和政府的关系中华人民共和国)。

计算了分钟
测试时间是另一个重要因素。“索引32个站点可以花很长时间,”弗雷泽说。然后炮塔处理程序是必要的测试非常小的设备,如二极管和缓冲芯片,他补充道。

大规模并行架构要求在系统级测试。这是另一个成本问题。

“系统级测试,一般来说,在业内被视为非常、非常昂贵的,”他说。“这是问题与系统级测试。你通常处理较为堆架式,自动化解决方案,所以吞吐量的系统级测试往往是慢。有时你处理模块或更大的组件,因此,自动化的处理变得更具挑战性。人们正在改变他们的策略在系统级测试和移动它更多的自动化解决方案,接近过程的前端。明显的问题与系统级测试和发现拒绝。后来在这个过程中你发现拒绝,你花了更多的钱。”

与消费产品,如智能手机,“最后的地方你想检测拒绝,”他说。制造商真的不喜欢系统级测试,因为它是缓慢的,它是昂贵的,它不是很自动的。

他们的答案是早发现芯片缺陷在生产过程。

“处理器行业总是有点的并行测试能力,”安德烈亚斯•纳吉说,Xcerra高级营销主任HG和TCI操作。“定期ICs,我们是在处理器方面,总是从单增加并行双,四,多个站点,16 - 32。我们认识到,背后的市场仍从少一些物理应用。绝大多数仍远低于平行。”

吃终于赶上测试处理技术,纳吉说。“一些客户想使用设备进行系统级测试。但是没有公司标准定义为系统级测试。如果你跟10个客户,你会得到10个不同的答案。”

加芙出生,Xcerra InMEMS和物联网产品总监,说测试成本,吞吐量和其他因素是并行测试的元素。测试人员公司看起来整体设备效率,包括停机维护或修理,并行测试的关键指标。

自2013年Xcerra Multitest收购以来,该公司一直强调“测试细胞创新”客户,纳吉说。目标包括减少芯片的数量必须取消由于缺陷。“测试高并行的是,在许多情况下,提高你的测试成本。如果你总测试时间也不是增加并行,在相似的水平比你之前的增加,你会得到一个良好的经济效益。但并行性本身并不是答案。其他因素需要提高。”

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