本文最初由西门子和英特尔的作者在2020年国际测试会议上提出,介绍了Tessent流扫描网络技术,并演示了这种分组数据网络如何优化当今复杂soc的测试时间和实现效率。作者提交的IEEE论文版本经授权转载于此。
作者:Jean-François Côté, Mark Kassab, Wojciech Janiszewski, Ricardo Rodrigues, Reinhard Meier, Bartosz Kaczmarek, Peter Orlando, Geir Eide, Janusz Rajski西门子数字工业软件;
Glenn Colon-Bonet, Naveen Mysore, Ya Yin, Pankaj Pant,英特尔公司
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