挤出更多的测试压缩

半导体的趋势导致更多IC测试数据量,更长的测试时间,测试成本较高。嵌入式确定性测试(美国东部时间)继续提供更多的压缩,已经相当有效地包含测试成本。对许多设计,标准测试按压就够了,但ICs用于汽车和医疗设备要求更高的生产测试质量,这意味着更多的测试模式和更长的测试时间。这些因素直接导致增加测试成本。这些类型的设计需要雇佣额外的DFT技术。

减少模式计算的一种方法通过增加DFT的效率是使用混合生成/逻辑内建自测(LBIST)方法。该技术采用了增加汽车IC设计师之一。一度独立的生成和LBIST技术合并扫描压缩IP BIST测试也可以适用。减少测试模式的另一种方法计算通过使用测试点。然而,传统的测试点扫描压缩和阿拉伯学者都没有目标。

有测试点与混合生成/ LBIST方法,事实证明,他们的工作更有效地比美国或阿拉伯学者分别测试点。测试点的目标扫描压缩和阿拉伯学者大幅削减测试时间和成本没有损失的测试覆盖率。

为什么使用混合生成/ LBIST吗?
生产测试的标准方法依赖于嵌入生成压缩很多年了。得到更高的覆盖率和在系统测试任务关键型汽车ICs,逻辑BIST (LBIST)。而扫描测试适用于确定性刺激,LBIST伪随机模式适用于电路。LBIST反应收集在一个多输入签名登记(MISR),这就要求电路是“X-free”,这意味着没有观察到的未知值。你达到X-free设计通过控制传播的随机在电路或未知的数据来源。LBIST对在系统测试是很好的事情,因为模式的生成和收集的签名完全位于芯片上。缺点是需要大量的模式,和一个相对较长的时间,达到所需覆盖的目标。

容易因为擅长停留在高缺陷检测和转换延迟测试,包括专门的故障模型,包括timing-aware cell-aware,路径延迟和桥接故障。生成时间提供所需的高质量的生产测试汽车ICs,但也提出的挑战大型测试模式集的形式驱动测试成本和时间。

那么,为什么不使用这两个方法覆盖测试汽车IC设计不同的场景:晶片,包装,和在系统吗?有几个原因。一个,所需的芯片面积LBIST LFSR(线性反馈移位寄存器)和生成的压缩减压器。他们一直使用不同的逻辑,尽管其功能目的是相似的。

这就是混合生成/ LBIST方法。你可以把逻辑与嵌入式压缩生成和LBIST没有处罚。混合生成/ LBIST策略已成为广泛使用的汽车ICs的设计师。图1说明了混合的组合逻辑架构TK / LBIST。

图1所示。导师的逻辑架构Tessent TestKompress TK / LBIST混合生成/ LBIST解决方案,与测试点。

效率+测试点
问题出现了:我们如何能使混合生成/ LBIST更有效率呢?一个地方看起来是测试点,专门设计结构用于提高测试结果为LBIST和生成时间。传统LBIST测试点(图2)改善结果,打破区域内电路抗随机模式,如大量的逻辑集中在编码或解码。

图2。BIST测试点擅长随机模式覆盖,但不利于减少模式生成模式。

测试点针对生成模式数减少,让并行逻辑锥共享相同的生成模式。这些测试点有助于控制增长向量数量减少所需向量的个数相同的原始报道。测试点目标模式计数减少通常模式计数减少用超出与芯片上的实现压缩。

图3说明了一个美国的测试电路。假设T₁需要测试模式来检测故障传播门G3,所以其他的输入必须设置为1。这个节点设置为1的检测中排除的故障传播通过G4。同样,设置门G4的其他输入0块传播通过G3的缺点。因为两组断层不能检测到相同的测试模式,测试模式的总数是T1 + T2。这可以解决,以便检测故障传播两个门可以检测到插入一个美国测试点的干树枝。例如,一个测试点左边的分支达到独立1-controllability这条线;测试点在右边分支允许0-controllability这条线。测试模式的数目等于最大{T1, T2}。如果T1≈T2,你突然将模式数减少一半。

图3。美国测试点擅长计数减少模式。

但单独生成和BIST测试点都不适合使用在混合生成/阿拉伯学者环境。这两种类型的测试点仍然可以用于混合生成/阿拉伯学者环境,但它需要运行两个独立的测试点插入。

解决了这个问题通过开发一个新的混合测试点技术相结合,提高了在以前的测试点算法。这些混合测试点提高生成压缩以及随机模式覆盖率超出了每个单独的测试点可以实现。另外,插入一个通过,这简化了设计流程。

如何混合生成/ LBIST测试点工作吗?
混合生成/ LBIST测试点技术结合了美国所有的好处和LBIST测试点和工作比单独类型的测试点。它结合了多个测试点的co-targeting目标模式计数减少和阿拉伯学者报道)与更高级的测试点分析和插入算法。对于一个汽车IC,混合测试点提供更好的在系统测试覆盖率,这是重要的会见ISO26262需求。如果你的设计不需要更好的LBIST停留在覆盖,然后混合测试点可以保持覆盖少10 x LBIST模式。

结果基于这些新的测试点是比前两测试点的总和在许多情况下。表1显示了改进测试覆盖率与混合测试点在美国东部时间或LBIST分别测试点。之间的平均测试覆盖率提高LBIST和混合测试点是3.25%。

表1。LBIST测试覆盖率(TC)改进为三个不同的测试点。导师的新VersaPoint混合生成/ LBIST测试点比美国或LBIST测试点测试覆盖率。

混合测试点也比美国更好的测试点计数减少生成模式。表2所示。

表2。生成模式的比较与三种类型的测试点计数。生成基线列显示测试覆盖率(TC)和模式计数(PC)没有测试点插入。容易因为PC @baseline TC列显示三个测试点的数量为每个模式类型,相同的测试覆盖率在基线。red-outlined列计算基线PC和PC之间的差异的三个测试点类型。混合生成/ LBIST测试点比美国或LBIST测试点进行模式数减少。

混合测试点是在使用几个大型半导体公司代替单独LBIST和生成测试点插入混合生成/ LBIST测试策略。技术已用于汽车ICs解决安全性至关重要的测试需求,以达到汽车安全完整性水平(ASIL) C和D认证。

混合生成/ LBIST测试点减少确定性测试图案数量和提高随机可测试性,和插入算法比之前的算法要快得多。

有关更多信息,请下载我们的白皮书,改善测试模式压缩Tessent VersaPoint测试点技术。