标签:测试点

挤出更多的测试压缩
通过杰夫•迈耶12月- 10,2019 -评论:0

半导体的趋势导致更多IC测试数据量,更长的测试时间,测试成本较高。嵌入式确定性测试(美国东部时间)继续提供更多的压缩,已经相当有效地包含测试成本。对许多设计,标准测试按压就够了,但ICs用于汽车和医疗设备要求更高的生产测试质量,而t…»阅读更多

周评:设计
通过杰西·艾伦11月- 02 2018 -评论:0

并购GlobalFoundries阿韦拉半导体,形成一个全资子企业,专注于定制ASIC设计。而14/12nm阿韦拉将使用与女朋友的关系和更成熟的技术,它有一个铸造合作7海里。新公司的知识产权组合包括高速并行转换器,高性能嵌入式tcam,老和density-optimized嵌入式ARM内核和性能……»阅读更多

这都是为了保持领先曲线测试的挑战
通过史蒂夫插座9月- 11,2018 -评论:0

初以来日子半导体器件包含仅仅把盖茨,世界制造业测试都集中在如何检测最大数量的潜在缺陷在最短的时间内。这个基本目标没有改变多年来持续在5海里。有什么戏剧性的改变了多年来,然而,使用各种技术……»阅读更多

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