辩论已经进行的更好,自动测试模式生成或内建自测。对于一些设计,结合都比任何一个孤独。
两个测试策略是用来测试几乎所有IC logic-automatic测试模式生成(生成)与测试模式压缩,和逻辑内建自测(阿拉伯学者)。多年来,有一个激烈争论一些DFT从业者之间是最好的测试方法——生成或阿拉伯学者。容易因为多年来一直占主导地位,现在整个电子行业用于全芯片的测试。然而,使用逻辑阿拉伯学者最近增加的更高需求能够测试芯片在系统或有限的测试接口,比如老化测试,测试,和MCM (multi-chip模块)。最近,两种测试方法之间的差异稍有模糊,现在DFT可以有效地实现这两种方法之间共享的逻辑。因此,对于一些设计,使用生成时间或逻辑之间的决定不是阿拉伯学者,而是如何将它们组合在一起使用。本文将描述如何生成和逻辑阿拉伯学者的工作,解释它们之间的区别,并提供指导方针在何时使用,另一个,或者两者的混合。
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