技术论文题为“利用公共信息来适应一个紧凑的热载流子注入模型到目标技术”是维多利亚大学的研究人员发表的。
“假冒回收对策对集成电路的设计需要在CMOS模拟老化设备的能力。电子设计自动化工具通常提供这种能力;然而,他们的模型必须用特定的目标调整使用技术。这需要工厂提供的数据是最理想的。它也可能来自一组专用测试设备,昂贵和耗时的过程。在这里,我们描述一个小说、低成本和快速的方法来调优这样的模型。迭代法利用公共领域数据来自出版研究适应老龄化的模型。结果在统计上验证目标技术的规范。我们证明我们的方法拟合的紧凑的热载流子注入退化模型使用核心和I / O nMOSFETs从特定的65纳米技术。我们得到的模型参数值验证的最大误差为0.5% 99%的信心。”
找到这里的技术论文。发表:2023年3月。
a . Dimopoulos m .硅镁层和s w·内维尔”利用公共信息来适应一个紧凑的热载流子注入模型到目标技术,“在IEEE访问,11卷,第21426 - 21417页,2023年,doi: 10.1109 / ACCESS.2023.3251340。
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