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标签:退化

NBTI & PBTI mosfet
通过技术论文链接- 5月30日,2022 -评论:0

技术论文题为“偏压场效电晶体的温度不稳定:物理过程,模型,和预测”从利物浦约翰摩尔斯大学的研究人员。文摘”CMOS技术在半导体产业占据主导地位,场效应管的可靠性是一个关键问题。优化芯片设计、权衡可靠性、速度、功耗和成本必须执行。这个r……»阅读更多

确保HBM可靠性
通过埃德·斯珀林——5月27日,2020 -评论:0

GUC Igor Elkanovich,首席技术官,伊芙琳乡下人,proteanTecs首席技术官,与半导体工程谈论困难出现在先进的包装,什么是冗余的,什么不是当使用高带宽内存,以及连续在线监测如何识别潜在的问题之前发生。»阅读更多

退化监测
通过proteanTecs- 09年3月,2020 -评论:0

介绍了可靠性退化建模和监测方法基于IC小说的结合嵌入式电路(代理),和片外的机器学习算法中推断出这些电路的数字读数测试和操作寿命。在一起,他们监控IC的边缘退化,以及其他重要参数的集成电路及其环境的年代……»阅读更多

在汽车可靠性芯片
通过埃德·斯珀林- 2月17日,2020 -评论:0

部门主管Roland Jancke设计方法在弗劳恩霍夫IIS的自适应系统的工程部门,看如何确保芯片用于汽车可靠的长期使用,任务配置文件有所不同取决于他们是如何使用的,和为什么重要的是要理解芯片开发的最新的节点可以被用于和他们将如何……»阅读更多

芯片的年龄如何
通过埃德·斯珀林——2020年1月20日——评论:1

安德烈•兰格集团经理质量和可靠性在弗劳恩霍夫IIS的自适应系统的工程部门,谈到电路老化,目前预测可靠性方法是否准确的芯片开发的先进流程节点,以及进一步的研究是必要的。»阅读更多

SoC电磁(EM)相声的症状
通过Anand拉曼2018年2月- 14(-评论:0

Anand喇曼和Magdy Abadir你过硅演示意想不到的行为?你有没有发现解释的设计故障或性能下降?很多问题可能是罪魁祸首——从过载信号网,嘈杂的电网,或增加温度,但经常被忽视的一个问题是电磁(EM)相声。电磁(EM) crosstal……»阅读更多

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