一种机器学习方法可靠性退化建模和监测ICs。
介绍了可靠性退化建模和监测方法基于IC小说的结合嵌入式电路(代理),和片外的机器学习算法中推断出这些电路的数字读数测试和操作寿命。
在一起,他们监控IC的边缘退化,以及其他集成电路和环境压力的重要参数。这种方法使预防未来的失败,并指出失败的物理学,从而估计失败的时候。
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