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标签:退化模型

退化监测
通过proteanTecs- 2020年3月9日-评论:0

本文描述了一种基于集成电路新型嵌入式电路(agent)和片外机器学习算法的可靠性退化建模和监测方法，该算法可以推断这些电路在测试和使用寿命期间的数字读数。他们一起监测集成电路的边缘退化，以及集成电路及其环境的其他重要参数。»阅读更多

不同EDA环境下一致的电路级老化仿真
通过弗劳恩霍夫东亚峰会- 2019年4月10日-评论:0

电路级别的老化模拟允许集成电路(IC)设计人员通过考虑场效应晶体管(fet)的退化来验证其电路的寿命可靠性要求。要通过合理的努力获得显著的分析结果，必须满足两个先决条件。首先，必须建立合理的场效应晶体管退化效应模型。秒……»阅读更多

芯片老化加速
通过埃德·斯珀林- 2018年2月14日-评论

随着新芯片在汽车、云计算和工业物联网等新市场的推出，可靠性正成为新芯片越来越重要的证明点，但实际上，随着时间的推移，证明芯片将按预期运行正变得越来越困难。在过去，可靠性通常被认为是铸造问题。为电脑和手机开发的芯片被设计成……»阅读更多

电路级老化模拟预测集成电路的长期行为
通过弗劳恩霍夫东亚峰会- 2018年1月10日-评论:0

可靠性是汽车、医疗或航空电子等安全关键应用中集成电路(ic)的主要标准。造成损耗的一个特殊影响是器件(即晶体管)的退化。它对电路行为的影响可以通过各种EDA供应商提供的电路级老化模拟来验证。然而，合理的结果……»阅读更多

技术讲座:基板噪声耦合
通过埃德·斯珀林- 2017年12月14日-评论:0

Roland Jancke是弗劳恩霍夫自适应系统工程部设计方法学部门的负责人，他与半导体工程公司讨论了衬底噪声耦合对芯片可靠性的影响以及如何处理这一问题。https://youtu.be/7E2rCwYr6-o»阅读更多

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