18lickc新利
的意见

如何睡容易如果你测试汽车ICs谋生

最终测试可以高达30%的汽车集成电路的总成本。你能减少也不用担心质量吗?

受欢迎程度

上个月,我看着汽车ICs的产品定义过程,利用70亿单片机市场的插图设计探索优化性能,特性,模具尺寸和产品成本。现在我想看看流程的后端,最后IC测试仍然是至关重要的无论多么良好的前期工作定义一套特色和恰当地使用软件工具来创建物理芯片。


从导师的首席执行官沃利莱茵河的9月20日IESF主旨在普利茅斯,密歇根州。完整的视频在这里

你今天看到路上几乎每辆车(可能包括你自己,除非你有一个经典)有一个单片机照顾管理复杂的制动系统,另一个电机控制算法在电动助力转向系统。事实上,单片机是洒在车辆执行主机的安全性至关重要的功能你不想浪费时间。物理测试是至关重要的在确定这些芯片和其它电子元件生产,这意味着零缺点,长期性能。

可以顺利,就像任何一个汽车工程师会告诉你,被公认为一个持续的旅程,不是目的地。汽车集成电路公司必须显示在他们的道路上,他们在做什么,不断提高质量和加快故障分析和诊断。他们必须跟上失败率,现在下跌能够从首次公布新油品标准的水平。在一个文章去年版,大卫搬到公园有一个很好的解释每十亿(DPPB):有缺陷的零件

“考虑额外的车辆,有7000多个半导体器件在各种电子系统。如果你假设DPPM率1对于车辆的所有的半导体器件,它相当于七失败每1000辆汽车。这可能看起来不是很多,但对于一个汽车制造商每年销售二百万辆溢价,它代表一个失败率超过每小时,每一天。”

所有主要的汽车IC房屋真正令人印象深刻的质量改进和减少缺陷的策略,提炼他们的能力在几十年的设计和测试经验。如果你说出常见的哀叹“我的角色只会注意到当有错误发生时,“花一些时间与汽车IC测试工程师或危机沟通团队在汽车制造商感觉更好。

汽车ICs,最终测试(不包括晶圆级探针测试)占整个产品成本的很大一部分。根据芯片的配置和模具尺寸,这种测试可以在任何地方到产品总成本的30%。任何产品经理工作在这个领域会告诉你故事的优化一些很棒的新芯片和坚如磐石的商业计划,只有它沉没试图控制测试成本。

这是为什么呢?答案可以归结为一个组合的汽车质量要求和遗留测试软件,和拔河提高质量和产量,同时减少昂贵的测试时间。

这些看起来相互矛盾的挑战。事实上,与传统的测试方法。ICs得到与每一代技术更复杂的节点。通常这些芯片控制安全性至关重要的功能,测试软件一般单向发展,总是添加更多的测试,每一个新产品发布但从未采取任何测试。那么如何让这个成本竞争力?

一种方法是使用统计数据和关联删除测试,一个方法通常被视为高风险、低收益的。当然,你可以删除一些遗留测试使用统计数据,对于一个微不足道的整体测试时间减少。但潜在的缺点是,你突然成为最受欢迎的人在组织一些德国汽车制造商突然停车新汽车生产线在某处的一个足球场,直到他们(你,晚上和周末工作)可以算出是失败的原因。

根据我的经验,集成电路测试工程师非常创新优化测试成本,固定成本。例子包括增加并行性(检测更多的并行集成电路,因此固定成本开销分布到多个单位)或某种收益增强项目的一些部分产量改进的好处是在一段时间内实现的。

但减少固定成本开销,而不仅仅是传播关于什么的?就像在上一篇博文我看着片上的平衡知识产权和软件,可以实现什么IP测试片上使用在线自测必须平衡上运行测试人员,燃烧昂贵的秒的测试时间。

正确的平衡意味着模拟器使用故障覆盖率,分析运行所有的测试,看到什么样的测试覆盖率,而且,重要的是,确定所有无用的遗留测试模式。这种模拟在一个抽象的水平可导致显著减少测试时间(和报告节约成本每年数千万美元)。

故障覆盖率模拟器还确定潜在的弱点在测试程序中,允许更大的优化的可靠性指标。和这种类型的故障仿真的好处是在混合信号领域尤为明显;在汽车、模拟是大多数领域出现故障的地方。

数字故障仿真已经商业化了一些时间,现在我们终于有相同的仿真模拟电路来驱动汽车可靠性更高,同时优化测试软件。我们可以应用这种芯片级设计自动化,可以卸载测试资源使用BIST逻辑和记忆芯片,进一步减少所需的时间运行在测试人员。

客户受益于更高质量和访问这些片上资源的能力在系统自检。例如,在上电,当你开始你的车内存阿拉伯学者可以运行在系统检查即使被访问的内存块。

这是完全有可能减少的大小模拟测试软件通过故障覆盖率。一旦测试软件优化的范围,它可以数字化压缩10倍甚至100倍为进一步减少测试时间。

现在,选择增加产量呢?

这里的关键是深入芯片电路和使用的技术结构,单元测试,而不仅仅是细胞的输入和输出。这变得更加意义重大,因为我们搬到更小的几何图形,据估计,有多达一半的电路缺陷发生在细胞。记忆可以修复和测试失败的数据分析,以确定哪些缺陷系统需要发送回设计团队进行设计规则分析。

结果是加速斜坡卷新流程和改善现有流程的收益率。这种类型的diagnosis-driven方法揭示产量限制的缺陷,传统上花时间找到(如果找到的话)使用典型的扫描诊断。

受益于改善集成电路测试整个设计团队和层次丰富,包括产品经理和业务单位管理,谁能显示成本竞争力帮助他们的市场地位以及损益表。但更重要的是,客户受益于更高的测试覆盖率和更健壮的测试方法支持增加可靠性,在系统检查和更快的故障诊断,使集成电路的房子给他们的顾客(一级和汽车制造商,他们正在越来越兴趣集成电路设计和测试方法),他们可以顺利的旅程还在继续。

因此高枕无忧。如果你参与开发汽车ICs,流程的后端给你不眠之夜,有一系列的技术来帮助你获得更多地呼呼大睡。和这些技术不断发展不断解决下一代芯片驱动传感器融合盒子自主车辆,igbt逆变器的电动汽车和其他车辆的ICs的应用程序。

告诉我我得到了什么对的(或错的)在Twitter上关于汽车集成电路测试(@AndyMacleod_MG)或LinkedIn

相关的白皮书:内联DFT技术自动调整的汽车架构

相关文章:汽车集成电路设计成功的秘方



留下一个回复


(注意:这个名字会显示公开)

Baidu