添加自动化测试设置不影响低噪声性能。
闪烁噪声和随机电报噪声(研制测试需要花很长时间,特别是当测量的频率1 Hz以下。扫描时间30分钟在单一温度是常见的。和标准数据收集装置模型需要DUT数据在多个温度在小垫。
低成本的测试(床),测试吞吐量大幅增加薄片上,自动化可以添加到一个测试设置使用四种不同的方法:
解决方法1,标准生产探测器可用于增加数据收集的吞吐量,但这些探测器设计用于高速生产测试,没有高精度闪烁噪声测量。结果数据的准确性是探测器噪声严重的损害了。
解决方法2、3和4,重大技术开发——光学、机械和软件,需要开关远离慢,手动探针定位。
在所有情况下,重要的是要注意,自动化方法不能妥协TestCell低噪声性能通过添加或传送到探测环境中不需要的噪声。这是一个常见的问题与传统的方法,添加未经优化热控制、硬件和电子模块。
增加我们的独立直流测量助理CM300xi-ULN探针系统创建了一个范式转变为工程师和实验室经理设置闪烁噪声测试。现在可以设置一个高吞吐量TestCell,两半或全自动CM300xi-ULN系统,提供完整的免提操作24/7。
自治直流测量助理结合机动探针定位器与先进的图像处理实现高度可靠的测量数据。它使小垫着陆优化、自动测试在多个不同的温度,和自动探测器布置间距测试子死去。所有功能进行了优化,以确保超低噪声性能不会受到损害。
single-DUT探头布局和multi-DUT布局可以很容易地通过测量软件呼吁完全自动化。自治直流测量助理负责所有热转换的复杂的管理,和热浸泡时间优化probe-to-pad-alignment (PTPA)。结果是超低噪声探测,较低的接触电阻小垫到30μm,对于任何闪烁噪声建模和扩展温度(-55到200°C),在晶片上的所有死亡,所有的晶片。
更多的信息CM300xi-ULN探测系统,请访问网站或在这里下载数据表。
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