高吞吐量噪声测量


闪烁噪声和随机电报噪声(研制测试需要花很长时间,特别是当测量的频率1 Hz以下。扫描时间30分钟在单一温度是常见的。和标准数据收集装置模型需要DUT数据在多个温度在小垫。低成本的测试(床),测试吞吐量大幅增加薄片上,…»阅读更多

硅的终结吗?


随着晶体管缩小,并不是所有的设备参数规模在同一时)和一个潜在的巨大问题所在。近年来,制造商已经能够降低氧化等效厚度(测试结束)比工作电压要快多了。因此,电场出现在通道和闸极介电层的人数一直在增加。此外,测试结束减少reduci实现部分……»阅读更多

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