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选择正确的位置探测器


高性能闪烁噪声和相位噪声可以退化TestCells安装在一个坏的位置。就像开发一个高性能的系统,找到一个好的位置可以是一个耗时和困难的任务对于典型的实验室技术员,负责建立新的探测器。这样做需要专门的测量仪器和工具,如加速度计…»阅读更多

高吞吐量噪声测量


闪烁噪声和随机电报噪声(研制测试需要花很长时间,特别是当测量的频率1 Hz以下。扫描时间30分钟在单一温度是常见的。和标准数据收集装置模型需要DUT数据在多个温度在小垫。低成本的测试(床),测试吞吐量大幅增加薄片上,…»阅读更多

消除接地回路感应噪声


随着半导体器件的性能增加,特别是对于低功率和高速度ICs,测试低频1 / f,研制和相位噪声提高信噪比是必需的。发现和消除不必要的噪音是需要在多个领域。噪声源可以发现在一个探测器,探测器外,测量TestCell。从历史上看,TestCell-generated噪声啊……»阅读更多

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