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标签:闪烁噪声

捏造FeFET设备与公司长期氧化铪为铁电层
通过技术论文链接2022年12月- 06 -评论:0

新技术论文题为“协同方法界面层的工程和读取电优化HfO2-Based FeFETs在存储计算应用”研究人员发表的弗劳恩霍夫ipm,说白了GlobalFoundries,这些弗赖堡。抽象(部分)“这篇文章报告铪氧化物的性能的改善(HfO2)铁电……»阅读更多

选择正确的位置探测器
通过彼得·安德鲁斯- 08年12月,2020 -评论:0

高性能闪烁噪声和相位噪声可以退化TestCells安装在一个坏的位置。就像开发一个高性能的系统,找到一个好的位置可以是一个耗时和困难的任务对于典型的实验室技术员,负责建立新的探测器。这样做需要专门的测量仪器和工具,如加速度计…»阅读更多

高吞吐量噪声测量
通过彼得·安德鲁斯11月- 10,2020 -评论:0

闪烁噪声和随机电报噪声(研制测试需要花很长时间,特别是当测量的频率1 Hz以下。扫描时间30分钟在单一温度是常见的。和标准数据收集装置模型需要DUT数据在多个温度在小垫。低成本的测试(床),测试吞吐量大幅增加薄片上,…»阅读更多

模拟迁移等于重新设计
通过安Mutschler2018年5月- 24 -评论:1

模拟电路设计从来都不容易。工程师可以度过整个职业生涯只关注锁相环(pll),因为让他们对电路的功能需要深入理解,包括他们如何应对在不同的角落和不同的制造工艺过程。在finFET时代,这些挑战对模拟电路只会加剧。重用、佛……»阅读更多

噪声控制
通过布莱恩•贝利2017年10月- 12 -评论:0

[getkc id = " 285 " kc_name =“噪音”)是一个不争的事实。几乎我们所做的一切产生噪声作为副产品,经常是一方噪声信号到另一个地方。不能消除噪音。它必须被管理。但噪声成为一个更大的问题在芯片技术节点变小和包装变得更加复杂?对一些人来说,答案是一个非常强大的肯定,而不…»阅读更多

噪音杀了我的芯片
通过布莱恩•贝利- 08年9月,2016 -评论:0

在过去,噪音被认为是一个烦恼,特别是对模拟电路。但是今天芯片失败实际上是由于分析不足。噪声类型是二阶效应成为需要考虑的主要因素。这是发生在同一时间,噪音的利润越来越小,振幅和时间维度。它……»阅读更多

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