一个便宜的和更少的耗时的失效分析方法。
典型的失效分析(FA)技术通常涉及一个失败的组件在一个完整的产品检测失败的根源。这种方法是廉价和更少的耗时。然而,这可能会与一个错误的解释产品的故障或俯瞰不同组件的协同作用的效果与失败有关。
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增加复杂性,崩溃,继续功能收缩增加问题;监督不足。
学术界、业界伙伴关系斜坡来诱使大学生硬件工程。
球继续减少,但是需要新的工具和技术。
埋藏特征和凹角几何图形驱动应用程序特定的计量解决方案。
问题包括设计、制造、包装、和可观察性都需要解决这种方法成为主流之前对于许多应用程序。
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