测试的过程模式启动、调试和设备特性改进的时机已经成熟。
最热门的IC市场今天是人工智能(AI)。人工智能芯片的设计中也最大、最复杂的,数以十亿计的晶体管,成千上万的记忆实例,具有独特而复杂的适当时机(DFT)实现启动和调试要求。在这一点上,新的人工智能芯片的体积相对较低,但上市时间是至关重要的。设计团队需要节省时间,任何地方和测试的过程模式启动、调试和设备特性改进的时机已经成熟。
生产后,测试模式必须根据硅在执行完整的生产之前进行验证测试。通常,这涉及到测试模式转换到tester-specific格式和生成测试程序将执行自动测试设备(吃)。当这些模式失败,然后翻译成吃输出芯片故障诊断和处理的数据的工具。这是低效的原因有几个:
这个标准硅启动流动变得笨拙,但可以显著提高了使用商业EDA软件代替吃来运行测试模式。桌面系统大大减少了需要昂贵的测试设备测试模式启动过程中因为所有调试和设备描述在任何地方都可以做。结果是显著减少周期时间,跨职能团队,更好的管理和更有效的故障诊断。
这样一个桌面硅启动系统(图1)包括一个电脑USB-to-digital适配器连接到启动/验证板与测试设备(DUT)。对许多设计,创建一个验证委员会促进软件开发和其他启动应用程序。董事会通常设置为模拟的条件现在在测试一个吃(如电源插脚,时钟,别针,等等),和所有可用测试所需别针USB-to-digital适配器。可以使用几种不同的适配器,根据针数和I / O电压要求。可选地,GPIB-programmable电源和时钟生成器可用于自动化设备描述。
图1所示。硅的长椅上设置启动。电脑运行Tessent SiliconInsight,验证板与USB适配器,电源和时钟发生器。
可比商用设置仅限于阿拉伯学者和其他测试仪器专门通过DUT的JTAG端口访问。这个新系统扩展范围non-JTAG测试访问和更大范围的模式应用程序和诊断程序。例如,生成模式与芯片制造商压缩和超过25外部扫描频道可以进行测试和诊断的推动按钮。
执行测试的软件模式然后收集并分析失败的数据构建相同的DFT软件平台用于创建测试结构和生成测试模式。这个共同的平台可以让软件来了解所有的测试结构和协议工作的结果可以以一种有意义的方式提供。在硅启动测试模式失败的时候,你通常感兴趣确定扫描细胞捕获失败的数据。在芯片上的压缩和层次DFT,可能需要复杂的解码和专用的诊断模式。有了这个新系统,专用的诊断模式的复杂映射和一代现在做下罩,大大简化了调试过程。
桌面硅调试过程的另一个特点是,它可以包括设计布局信息(LEF和DEF文件)的形式,这简化了调试过程中的故障定位的布局。同样的方法也可以用于硅特性如检查性能的变化取决于时钟速度和电压。
这个桌上型流(图2)大大减少了硅测试模式启动和调试的时间。
图2。桌上型硅启动流程。
这个系统已经被大公司成功应用和人工智能芯片公司。在2016年IEEE研讨会上缺陷,适应性测试,产量,和数据分析(2016年数据),柏树半导体描述系统如何被用来打开触摸屏控制器芯片(图3),芯片片上美国东部时间扫描压缩四个扫描通道可以连接到一个测试人员压缩生成的应用程序模式。
一个蛋白石凯利XEM6310 USB-to-digital适配器是通过USB接口连接到笔记本电脑运行的导师Tessent SiliconInsight软件。一个简单的配置文件指示使用适配器和销地图是用于设置这个DUT的软件。
图3。2016年的数据表示描述的硬件设置。
失败周期工具执行期间收集的数据自动生成模式的设置和使用以及设计信息诊断失败的嫌疑犯。在这个实验中,结果指出,两个扫描链中没有失败。用户能够隔离失败失败并生成一组新的生成模式的错误链戴面具。当这个修改模式设置应用到DUT,测试通过,没有失败的周期。
用户也能够诊断硅失败的根源的基础上,确定故障位置使用此流。找到问题的根源可能是在传统的启动设置,但这需要一个独立的测试插入和访问贵吃硅设备启动和调试。使用桌面流显著加速这个过程。
节约时间在芯片设计流程对公司很重要在高度竞争的领域,如人工智能。使用桌面系统为测试模式启动、调试和诊断可以减少所需的时间由50%至80%,而在这个阶段改善集成电路故障诊断过程。桌面测试模式启动系统调试和加速特性,减少周期时间。
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