中文 英语

类别:最佳的:LP和惠普

类别:物联网、安全性和汽车

环境敏感香料模拟提高了ESD的保真度分析
通过奈尔Natekar2022年2月- 10(-评论:0

静电放电(ESD)是一个主要的可靠性对集成电路(IC)设计。ESD验证被证明是一个重大的挑战在高级节点,由于集成电路设计的复杂性和晶体管数量增长。传统的ESD验证方法使用寄生提取其次是香料仿真缺乏提供仿真结果在实际runtim……»阅读更多

Bug打猎!螺旋在正式报道关闭
通过马克Eslinger1月- 13,2022 -评论:0

和金侯许多公司都使用由马克埃斯林格表示形式验证来验证复杂的soc和安全性至关重要的设计。使用正式的验证来确认设计功能和发现功能缺陷正成为一种有效的验证方法。尽管形式验证不会处理的复杂性在SoC设计水平,它是一种有效的工具来验证th……»阅读更多

将离开与设计结果不具有填补Tapeouts更快和更准确
通过斯Velivala- 09年12月,2021 -评论:0

地点和路线(不)工程师总是在寻找方法来优化他们的设计流程,以确保设计满足其设计能力,性能,和区域(PPA)的目标,同时也触及tapeout最后期限。Calibre的引入实时数字接口Calibre nmDRC和口径nmDRC侦察设计规则检查(DRC)验证可用不过程中t…»阅读更多

两种方法对基于arm调试SW工作量出类拔萃
通过安迪·迈耶11月- 11,2021 -评论:0

由安迪•迈耶和托马斯Piekarz在一个典型的系统级芯片(SoC)开发项目,给定SoC芯片架构师将最初的规范提供给设计团队提前几年的硅。随着需求的变化,他们将修改硬件和软件规范。通常,大部分软件开发后期出现的专业发展…»阅读更多

将可扩展的电源完整性分析模拟集成电路的设计
通过乔戴维斯10月- 14,2021 -评论:0

电源完整性是一个广泛的术语在集成电路(IC)设计和验证。然而,当集成电路工程师通过设计验收工作,电源完整性分析的重点是设计的三个具体方面:权力:验证芯片设计的实现提供了总预测功率在不同的操作模式。性能:查找和排除性能问题影响……»阅读更多

欺骗的最短路径
通过Derong严- 09年9月,2021 -评论:1

当制造、组装和使用集成电路(IC)芯片,积累造成的静电放电(ESD)静态会损坏集成电路电路如果电路没有妥善保护[1]。防止此类损伤,ESD保护设备设计到电路,这样他们将会创建一个低阻抗路径限制的峰值电压和电流转移过剩……»阅读更多

现在你可以自动化封闭验证2.5 / 3 d技术
通过蒂娜Medhat2021年8月- 12 -评论:0

封闭被建模为短路(低阻抗的路径),可以发生在一个集成电路(IC)。这可能导致破坏由于过电流之间的相互作用所产生的寄生设备(PNP型和NPN型)。防止封闭条件,有两个关键类型的封闭设计rules-fundamental和先进[1,2]。基本规则是当地的封闭设计r…»阅读更多

ASIC /集成电路验证趋势关注硅谷成功的因素
通过哈利福斯特- 08年7月,2021 -评论:0

终于我们来到最后一个部分的系列文章的第1部分介绍的结果威尔逊研究小组2020年的功能验证研究。在本文中,我们讨论验证趋势IC /语言和库采用ASIC,低功率管理和验证有效性。然后我们把两个有些奇怪现象深入探讨了数据显示:…»阅读更多

除了水冷却器:2020 IC / ASIC设计和验证报告的趋势
通过哈利福斯特- 10,2021 -评论:0

验证和设计工程师喜欢说话商店和讨论他们的经验和视野。但即使工程师分享故事在水冷却器(无论takes-conferences形式,博客等)并提供各种有价值的见解,它不提供完整的图片非常大的、复杂的和极其动态全球半导体行业。为了更好的…»阅读更多

FPGA验证工作和技术采用的趋势
通过哈利福斯特2021年5月- 13 -评论:0

我们越了解大局,背景,历史和预测趋势,或者有其它人做同样的事情,我们可以做的更有效地我们的具体工作。这个观点也通知EDA行业如何最好地协助和维持FPGA和ASIC工程社区的需要。提供这种信息是我们之所以c…»阅读更多

←旧的文章 新帖子→

  • 赞助商

关于

导航

与我们联系

版权©2013 - 2023 SMG |服务条款|隐私政策
Baidu