有什么独特的测试挑战STT-MRAM片上内存而考虑需要为汽车应用程序?
嵌入式记忆测试和维修的挑战是众所周知的,以防止测试包括最大限度地提高故障覆盖率逃脱并使用备用元素制造业产量最大化。激增的有前途的非易失性内存架构的可用性增强,有可能取代传统挥发性记忆,一套新的SoC水平记忆测试和修复出现的挑战。与动量构建自旋转移力矩MRAM (STT-MRAM)作为嵌入式MRAM技术的主要味道,这个白皮书关注独特的测试挑战STT-MRAM片上内存在考虑汽车需求的应用程序。选择一个合适的嵌入MRAM的记忆测试和维修解决方案,设计师需要考虑的因素,如生产测试期间执行的特殊需要修剪,扩充内存故障检测算法针对MRAM架构,和制造业产量最大化过程敏感MTJ(磁隧道结)细胞。
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