标签:阿拉伯学者

从Cell-Aware Device-Aware测试开始了
通过劳拉·彼得斯- 06年6月,2023 -评论:0

使用device-aware测试替代记忆的早期结果显示扩展的测试覆盖率,但是这仅仅是开始。一旦半导体行业意识到它正在遭受设备失败,即使测试程序故障覆盖率达到了100%,它对解决这个脱节的缺陷表现在设备和常用的故障模…»阅读更多

从已知的好死已知系统UCIe IP
通过曼努埃尔·莫塔2023年5月- 11 -评论:0

Multi-die系统是由一些专门的功能(或chiplets)死去聚集在同一个包中创建完整的系统。Multi-die系统最近成为解决克服摩尔定律的减速通过提供一个路径缩放功能封装芯片的方式可制造的具有良好的收益。此外,multi-die sy……»阅读更多

优化扫描测试复杂的集成电路
通过格雷戈里·哈雷2023年5月- 09年-评论:0

随着芯片变得更异构集成功能,测试它们提出了越来越多的挑战,特别是对高速芯片系统(SoC)设计测试针有限的可用性。此外,复杂的3 d和chiplets等新兴包装需要全面的新的解决方案,可以提供更快的结果在多个阶段硅lifec……»阅读更多

设计在线监控
通过安Mutschler- 4月27日,2023 -评论:0

软件生态系统在每一个应用程序空间半导体接触、显示器和传感器是硅生命周期管理发挥着越来越大的作用和概念在可靠性和弹性——无论是在设计领域。真正的系统级设计的结合,在/芯片上的显示器,和改进数据分析将大大提高可靠性…»阅读更多

测试的挑战要求可靠性增加
通过安妮Meixner- 07年3月,2023 -评论:0

强调质量改善半导体开始远远超出仅仅是数据中心和汽车应用,ICs在任务中发挥作用——和安全性至关重要的应用程序。但这关注提高可靠性从而整个增大压力测试社区,从实验室到工厂和领域,在晶体管密度的产品持续增长,wh……»阅读更多

5 g mmWave商业化的努力正在进行中
通过大卫Vondran- 07年2月,2023 -评论:0

由大卫Vondran和罗德里戈Carrillo-Ramirez 5 g宽带蜂窝技术进入了2019年第一次大规模推广阶段。近年来,5 g采用非常明显在消费电子行业中,5 g的功能目前中间层高端移动设备的一个关键卖点。在幕后,然而,有很多精心设计的发展……»阅读更多

为在设计流程的早期测试做准备
通过安Mutschler3月- 02年,2022 -评论:0

直到最近,半导体设计、验证和测试单独的域。这些领域已经开始合并,由需求增加可靠性,缩短市场窗口,和日益复杂的芯片架构。在过去,产品设计从功能的角度来看,和设计师并不在意产品的物理实现……»阅读更多

高质量的测试和安全的soc嵌入式分析是至关重要的
通过李哈里森1月- 11,2022 -评论:0

应用程序像智能卡和国防工业中使用的设备需要安全保证敏感数据访问外部代理。这曾经是一个利基要求通过定制的解决方案。然而,现在汽车和cyber-physical系统正在激增,要求在安全测试和监测成为主流。当前最好的开发……»阅读更多

更多的错误,修正在记忆
通过布来安梅奥- 09年11月,2021 -评论:1

任何类型的记忆一些细胞变小,误比特率增加由于低利润率和过程变化。这可以使用纠错处理占并纠正一些错误,但更复杂的纠错码(ECC),它需要更多的硅区域,进而推高了成本。鉴于这一趋势,成本的迫在眉睫的问题是……»阅读更多

不要让阿拉伯学者X是一个问题的逻辑
通过拉胡尔Singhal2021年10月- 12 -评论:0

拉胡尔Singhal和Giri Podichetty失败操作的集成电路芯片(ICs)或部署在对安全性要求苛刻的应用,如汽车、医疗、航空航天可能产生灾难性的后果。这些失败可能源于缺陷逃脱制造的芯片测试或瞬态故障系统操作过程中可能发生的由于等因素……»阅读更多

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