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当决定是否一个集成电路是安全的从随机硬件故障,应用安全指标,如PMHF SPFM和线性调频,工程师必须分析瞬时和永久的缺点。本文强调了基本永久性差异和瞬态数字电路故障,为什么这种区别是重要的上下文中的ISO 26262:2018功能安全标准。
他们和他们来自哪里?
你想确定你的设计是安全的从随机硬件故障和试图找出安全指标如单点故障指标(SPFM),潜在故障指标(lem),并为硬件故障概率度量(PMHF) ?如果是这样,你无疑是重瞬时和永久的缺点。事实是,他们都需要分析,在我们发现他们之间有很多区别。本文的目的是为了突出永久和临时故障之间的根本差异数字电路,以及为什么这种区别是重要的ISO 26262:2018功能安全标准。
在一个集成电路,故障的来源来自各种来源:电磁干扰(EMI),辐射、电迁移、冲击、振动等。在某些情况下,重要的是要知道具体来源可以采取有针对性的措施。在这种情况下,它通常是合理的抽象一点翻转(瞬态)和停留在故障(永久)。重要的是,这种抽象是ISO 26262所允许的。
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