中文 英语
技术论文

新方法来提高数据质量在半导体制造的FMEA文件

研究人员提出新方法来提高数据质量的FMEA文件。

受欢迎程度

格拉茨大学的研究论文新技术和其他人。

文摘
“数字化因果领域知识是至关重要的。特别是包含因果领域知识的数据分析过程有助于避免偏见的结果。提取这些知识,故障模式影响分析(FMEA)表示一个有价值的数据来源的文档。最初,FMEA文件被设计为专门生产和解释人类的领域专家。因此,这些文件经常遭受数据一致性问题。本文认为,由于传递对因果关系的看法,不整合和合并信息情况下可能发生。因此,我们建议改进的一致性FMEA文件一步更有效地利用因果领域知识。与其他工作相比,本文侧重于因果关系的一致性表达了FMEA文件中。为此,基于显式方案类型的矛盾派生从因果关系的角度来看,小说在FMEA方法来提高数据质量文件。数据质量改进将显著改善下游任务,如根源分析和自动过程控制。”

找到开放获取技术论文链接在这里。2022年2月出版。

Razouk h;克恩,r .改进的一致性故障模式影响分析(FMEA)文件在半导体制造业。达成。Sci。2022, 1840。https://doi.org/10.3390/app12041840。

访问半导体工程的这里的技术论文库和发现更多的芯片行业学术论文。



留下一个回复


(注意:这个名字会显示公开)

Baidu