中文 英语

模拟问题的增加

新的数据表明,由于模拟问题,越来越多的芯片被迫进行重制。

受欢迎程度

模拟和混合信号设计一直都很困难,但最近的一项调查表明,由于ASIC内的模拟电路超出了容忍度,该行业在过去一年中出现了显著增加的故障。

是什么导致了失败的激增?这只是数据中的一个小故障,还是这些问题是真实存在的?答案很复杂,并且在很大程度上依赖于模拟调优。


图1:导致ASIC重旋的缺陷。资料来源:威尔逊研究公司和西门子旗下的Mentor公司

西门子Mentor的AMS验证高级产品经理Sathish Balasubramian说:“模拟调优意味着你需要非常清楚模拟电路的性能,考虑到整个系统的环境,你需要在硅中实现。”“这需要非常接近你从硅中得到的。”

Mentor的首席科学家Harry Foster分析了Wilson Research/Mentor的调查结果,以确定这种峰值是否仅限于最新技术节点的设计,还是更广泛地存在。结果表明,虽然7nm或以下是遇到问题的人最常见的答案,但它只占大约16%。几乎所有的节点,包括150nm及更大的节点,都出现了这种类型的故障。

第二个探索领域是,这些问题是在大型设计中出现的,还是在小型设计中出现的。结果可以在下面的图2中看到,但它清楚地表明,尽管所有设计尺寸都在经历与模拟调优相关的问题的增加,但最大的百分比涉及最大的设计。


图2:根据设计尺寸调整模拟电路缺陷。资料来源:威尔逊研究公司和西门子旗下的Mentor公司

这个数字可信吗?Cadence高级产品经理Art Schaldenbrand表示:“跟踪模拟设计方法进展的一种方法是,与其他元素相比,设计中模拟元素导致的现场故障的百分比。“在最近的VLSI测试研讨会上,据报道,95%的现场故障是由于设计中的模拟元素。模拟很难。模拟设计的挑战越来越大,模拟元素对设计的影响也越来越棘手。此外,模拟设计人员的压力也越来越大。降低模拟功率比降低数字功率需要更多的时间。这是因为我们必须重新构建我们在模拟中所做的事情,以实现这一目标。”

所有尺寸和技术节点的设计都在模拟中遇到越来越多的问题。Mentor的巴拉苏布拉米安表示:“asic正变得越来越复杂,主要受到两个领域的驱动。“其中之一将是向高级节点的迁移。但最大的驱动因素是复杂混合信号设计的数量正在增加。这主要是由于公司试图优化区域足迹,在同一技术节点中包括模拟。每个人都试图迁移到单个基板或单个技术节点。这本身就带来了很多挑战。当团队需要接触模拟设计,或者接触高级节点的一些影响时——比如较低的阈值,比如在寄生方面非常讲究——他们不能做一个原理图模拟,然后说一切都正常。”

该行业的一个重要增长领域来自物联网设备。Synopsys模拟和混合信号应用工程经理Farzin Rasteh表示:“当你看到移动设备、物联网或手持设备时,你会发现更多的模拟组件。“你将得到锁相环、射频和高频调制电路。你会发现充电泵和运算放大器。所有这些设备都有传感器,本质上是模拟的。”

新的节点意味着更多的问题。“在最新的技术节点上,有新事物需要学习,需要时间来充分理解它们,并将这些新效应纳入工具和模型中,”弗劳恩霍夫IIS自适应系统工程部高级混合信号自动化集团经理本杰明·普劳奇(Benjamin Prautsch)说。“例如,在最新的节点上,可变性很难建模。当出现许多根效果时,寄生提取变得更加困难,并且需要时间来隔离依赖布局的效果,这可能会加剧寄生问题。”

其中一个新问题就是噪音。Balasubramian表示:“台积电曾发表论文称,将模拟设计移植到更高技术节点或先进技术节点存在自身的挑战。“最好的情况是一切顺利,你可能很幸运。要做到这一点,你可能有很高的利润率。在大多数情况下,这将导致性能下降。但最坏的情况是它不起作用。”

当你把噪音和可变性结合在一起时,情况会变得更糟。Synopsys的Rasteh说:“想想电压调节器或电荷泵,它们为数据路径提供电力。“如果有变化,如果有噪音怎么办?”这些噪音是如何在信号和时钟的计时中表现出来的,而这反过来又可能导致故障?在这些小的几何图形上,在这些高频率上,每一皮秒都很重要的地方,存在什么类型的因果关系?这些事情通常会导致失败。”

有些问题会导致芯片失效,但还有其他原因可能需要重新旋转。Synopsys设计组高级员工应用工程师Haran Thanikasalam表示:“涉及到变异,最大的挑战是产量。“我们依靠模拟来提供准确的基于sigma的分析,这样他们就可以将其与产量下降联系起来。工具很难将不同的西格玛值应用到电路的不同部分。因此,公司会发出一个测试芯片,这些芯片为各种分析提供了一个载体。他们可以推动硅的极限,然后在模拟和实际部件之间建立相关性。”

从模拟中期待更多
即使工艺技术正朝着相反的方向发展,提高模拟性能的压力仍然存在。“有了芯片内集成,就不再有简单的模拟/数字边界了,”Balasubramian说。“我们看到的设计架构是这样的:模拟驱动数字的交通没有一种方式。相反,存在反馈循环。考虑锁相环的数字校准。锁相环过去是纯模拟的,但今天他们增加了数字校准,使其更快、更容易收敛。现在,你的基本模拟块有一个数字组件,它不再是单向流了。这需要更先进的方法。”

Rasteh表示同意。“为了检查和调整,我们需要在设计中加入更多的智能。这可能包括通过反馈回路进行自我控制,以监测这些事件的条件——无论是温度、接收的信号功率,还是错误检查机制,无论是测量抖动或变化——并自我纠正和补偿。”

这就增加了失败的可能性。“可配置模拟已经变得非常流行,”Rasteh补充道。“这是你使用数字或软件指令模拟进入高功率模式或高频模式,改变电流源的输出,或改变电荷泵的输出。设计必须能适应极端条件、天气变化或外部因素,当你在这么小的区域内装这么多东西时,高频电路、数字电路和模拟电路之间都会有串扰噪声,反之亦然。这并不容易模拟和建模。”

推动性能
所有的通信都依赖于模拟。至少会有一个SerDes驱动信号通过恶劣的环境,而新版本的标准通常会对SerDes提出更高的要求。“速度越快,精确度就越高,”巴拉苏布拉米安说。“边际越来越小,满足某些界面要求所需的速度意味着你必须考虑更多的物理效应。这在某些设计中并不容易实现,并且需要进行更多的调优。他们过去甚至不考虑在技术上发生的设备噪声就停止模拟电路。但设备噪声会增加到真正影响锁相环性能的程度。”

接口上非常小的错误都可能导致灾难性的故障。Rasteh说:“过程的变化可能会在记忆的读写中产生错误或延迟。”“如果你错过了时钟边缘的几分之一皮秒,就足以使读写不可靠。如果每30或40个写入中有一个是错误的,这就足以使芯片或内存控制器无用。我们认为这些问题的主要原因是变化和较高的频率。所以对抖动和错误的容忍度要小得多。过程变化会在这些频率或时钟相位或抖动中产生更大的变化。因为在绝对时间方面几乎没有边际,这些设计在变化下的反应更加明显。”

更高质量的
不仅速度加快,环境变得更加极端和嘈杂,一些市场还要求更高的质量。“任何用于汽车的芯片都需要极高的精度,”巴拉苏布拉米安说。“对于汽车行业来说,这意味着至少有5-sigma,也可能有6-sigma。没有办法在合理的时间内,使他们可以用蒙特卡罗仿真验证模拟电路。我们将机器学习技术引入变异分析。有了它,我们可以在有限数量的模拟中实现设备验证,而不是运行数十亿次模拟。”

这就需要改变开发过程。Synopsys的Thanikasalam说:“运行多个转角(PVT)模拟永远不会发现变化问题。“他们必须利用来自铸造厂的统计模型,他们需要扫描整个范围才能发现这些问题。”

处于前沿节点的公司意识到了这一点。弗劳恩霍夫的Prautsch说:“当工艺和模型仍在发展时,测试芯片变得非常重要,可以成为验证提取的重要步骤。”“许多新的流程步骤一开始都是非常手工的,需要时间才能将重复和/或容易出错的任务整合到工具中。”

可以处理许多此类问题的工具正在合并。Rasteh问道:“工具如何识别设计中对输出影响最大的部分?”“设计的哪一部分最可能导致错误?”如果你有一个锁相环,锁相环上的抖动对你来说非常重要,控制抖动对你来说很重要。那么设计的哪些部分最有可能影响到这一点呢?它是VCO,反馈回路,还是电荷泵?”

结论
虽然调查数字代表了需要模拟调优的asic的极端跳跃,但结果正确地识别了模拟设计正在经历许多变化。那些处于极端边缘的人正在经历着每个节点所带来的新挑战的延续,它们相继变得更加复杂。测试芯片可能只是计划的一部分,在那里模拟信号可以被调整。

对于遗留节点上的设计,这些团队可能会被打乱,因为他们必须第一次处理集成问题。许多传统方法(模拟和数字是分开设计和验证的)必须重新考虑,这影响了团队动态。

所有节点上的所有设计都被要求更快、耗电更少、产量更高,而每一项都逐渐增加了复杂性。

相关的
模拟知识中心
关于Analog的头条新闻、特别报道、视频、博客和白皮书。
模拟设计中的问题与解决方案
在7纳米及以上,以及在许多先进的封装中,所有器件都受到噪声和接近效应的影响。
模拟设计失败的原因
很久以前,模拟电路就不再遵循摩尔定律了,但这并不总是有帮助。
边缘设备的完整性问题
当电压显著降低时,噪声成为旧节点的一个重要问题,这对电池供电的设备来说是一个严重的问题。
低功耗模拟
随着数字功率的下降,模拟电路所消耗的功率越来越引起人们的关注,但模拟设计人员几乎没有工具来帮助他们。



6个评论

凯文·卡梅隆 说:

然而,让任何人注册开发SystemVerilog-AMS似乎是注定要失败的。

大多数问题源于模拟人员和数字人员在IC设计和EDA公司中彼此不了解,未能整合他们的流程。Verilog-AMS大约在25年前推出;从那时起几乎没有改进(所有的实现都是半途而废的)。

说:

非常有趣的文章,谢谢布莱恩!
几年前,我们在设计具有复杂模拟/混合信号和RF功能的下一代MCU平台时面临着同样的挑战。
很明显,我们需要在所有层次结构级别上进行正式的验证,包括模拟,我们提出了一种新的方法,使我们从1p0的5-10个架构错误变成了0个架构错误。
诀窍是在数字流中正式验证每个IP,看起来效果很好

杰弗里·S·博斯塔克 说:

在图2中,最大的百分比似乎是最小的设计?

说:

“验证数字流中的每个IP”对数字来说是有意义的,但模拟是一个完全不同的星球。工具和70年代一样,到目前为止没有创新,也没有受到关注。

马克。R。 说:

这也让我很困惑。我想他的意思可能是问题的最大增加来自于最大的设计。

艾蒂安 说:

现在有一些更新的工具可以解决这些问题,但模拟设计师并不一定想花时间使用它们,因为这最终会导致更多的工作(而且他们已经很忙了)。

模拟电路通常根据设计规格进行测试,即将功能设计需求转换为模拟测试台,并将其转换为等效的硅测试。大多数设计人员认为,有制造缺陷(或较大的工艺变化)的硅器件将无法通过此类测试。这是一个有缺陷的假设——即使存在硅缺陷,模拟电路也有许多方法可以通过测试。有一些工具可以突出这样的测试覆盖疏忽。但这需要有解决这些问题的意愿,并努力做出一些改变才能实现目标。

该行业可能需要类似DFT工程师的模拟人才。这个人的工作是确保所有设备都经过了正确的测试(和可测试),并真正达到了他们的规格,而所有有缺陷的设备都被有效地筛选出来,而不是简单地成为测试的逃脱者。有人站在模拟设计师和测试工程师之间,解决两者的需求,同时激怒谁…

留下回复


(注:此名称将公开显示)

Baidu