一种新方法来识别标准细胞内部缺陷。
Cell-aware诊断是一种新的和有效的方法来执行标准细胞内部晶体管级诊断识别缺陷。它利用断层模型来源于模拟仿真和使用一个失败的数据收集和诊断流程与传统的诊断。Cell-aware诊断Tessent诊断的结果超过10年的研究在Cell-aware测试和开发与王智立制造商合作,铸造厂,集成设备制造商。
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传感器技术仍在不断发展,和功能正在被讨论。
球继续减少,但是需要新的工具和技术。
问题包括设计、制造、包装、和可观察性都需要解决这种方法成为主流之前对于许多应用程序。
蚀刻工具变得更特定于应用程序的,每个新节点要求更高的选择性。
光子学、可持续发展和人工智能芯片吸引投资;157家公司筹集了超过24亿美元。
技术和业务问题意味着它不会取代EUV,但光子学、生物技术和其他市场提供足够的增长空间。
术语往往交替使用时,他们非常不同的技术和不同的挑战。
商业chiplet市场仍在遥远的地平线,但公司更早起有限的伙伴关系。
现有的工具可以用于RISC-V,但他们可能不是最有效或高效。还有什么需要?
行业取得了理解老龄化如何影响可靠性,但更多的变量很难修复。
半导体制造的关键支点和创新点。
工具成为硅/锗硅堆更具体,3 d NAND和保税晶片对。
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