评估产品性能、利用率和寿命与芯片监控。
那会是什么样子,如果你观察芯片内部有神奇的能力,你的眼睛在硅内部混乱的活动?如果你可以凝视死亡,看到实时电压供应的高峰和低谷,强调活动和热量高的地区,地区平静的不平衡工作负载创建空闲处理器核心。芯片的视觉景观,海景,甚至一个siliconscape在操作这是不断变化的。进一步和我呆一下。那会是什么样子,然后把这个神奇的数以百万计的设备之间siliconscapes铸造生产,测试部署之前,或释放到田间的产品吗?
我的上一篇博文,完成硅生命周期管理难题是一个反思的机会,现在半导体行业。嵌入监视器的博客凸显了巨大价值和传感器在今天的硅设计和这些结构如何使丰富的数据来源分析产品和系统优化的好处,以及可靠性。机会,硅片的生命周期的每一步数据中心内,汽车,或消费者应用程序可以从设计到临终预测的过程。
汽车的发展早期20th世纪看到用户(或称为驱动程序)受益,从早期的进步获得增加方便实时测量的概念,如燃料仪表,发动机压力显示器、和油温传感器。强烈地依赖这种技术意味着摒弃它将成为不可思议的司机。相反,游戏在开发更精确,更快的反应和更可靠的仪表板。喜欢我,如果你已经拥有一辆旧车没有燃油量表或速度计你知道驾驶体验的焦虑可以成为!
以类似的方式,现在芯片监控finFET的成功操作和性能的关键设备。嵌入式传感器的重要性正日益增强,已经成为一个关键的环节。生活观察通常使我们得出这样的结论:重要性比例相关事件失败的痛苦和不便。
从评估的角度来看一个芯片的功能行为,应该会发生什么饲料可变时钟的监视器,自适应电压,或设备保护计划你依赖失败和可能的后果是什么呢?也许一个冷却风扇不开关,低警报没有得到供应,一个损坏的热测量时钟或供应水平大幅增加,所有导致灾难性的失败不仅芯片产品本身。它变得明显的在这一点上,低延迟,响应迅速、灾难性的旅行保护电路是必需的,尤其是当考虑到局部模温可以迅速上升,在毫秒。结合自检监控,确保自己的健康状况,我们开始减轻潜在的失败的情况。至少,这样的保护措施和方法,我们可以寻求安全的反应应该失败发生,这是一个特别为汽车应用的热门话题。
从绩效评估的角度来看,一个机会继续增长幅度的测量设计。在复杂的soc,优化可通过抑制电压,节约几毫伏好支付股息以来电能节约能源使用正比于电压的平方。有一个需求改进技术来抑制供应和测量可用操作的优势,进而产生有效的结果在考虑数据中心能源消费或消费产品的电池寿命。测量关键路径的边缘性的收益在复杂数字芯片设计意义重大。
因此,性能和可靠性的两个关键挑战决定的方向硅生命周期测量和分析。siliconscape仍很大程度上为我们探索和穿过绿地空间,紧随其后更好地了解所在的机会更大的产品性能,利用率和寿命。硅生命周期管理继续为我们提供车辆开始这个新的和令人兴奋的旅程。
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