如何减少缺陷级别通过瞄准特定的错误。
Tessent Cell-Aware生成是一个晶体管电平ATPG-based测试方法,达到显著的质量和效率改进通过直接针对特定的短裤;打开和晶体管缺陷内部每个标准电池;导致缺陷显著减少(DPM)水平。传统的扫描模式是使用故障模型,创建基于细胞库的逻辑操作。然而,有缺陷,可以发生在图书馆的细胞不保证与传统模式和故障检测模型。这是更重要的一个问题与新技术的缺陷位置发生越来越多的细胞和细胞内的设计变得越来越复杂。介绍了结果,cell-aware测试来确定缺陷的位置在图书馆内细胞和生产测试模式,确保检测的缺陷。结果表明,硅cell-aware测试能够检测出800种以上的缺陷每百万甚至在详尽的停留在和过渡模式。
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