Tessent Cell-Aware测试


Tessent Cell-Aware生成是一个晶体管电平ATPG-based测试方法,达到显著的质量和效率改进通过直接针对特定的短裤;打开和晶体管缺陷内部每个标准电池;导致缺陷显著减少(DPM)水平。传统的扫描模式是使用故障模型,创建基于t的逻辑操作……»阅读更多

晶体管级缺陷诊断


每一个新的半导体供应商设计流程节点代表了激动人心的机会,制造,测试和故障分析解决方案。一个新进程意味着新的挑战来解决,希望更多的钱。另一方面,每当解决方案,提出了解决这些新的挑战,我们很少听到这些是多么有用更成熟的流程节点。一种技术……»阅读更多

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