中文 英语

标签:MBiST

利用Tessent MemoryBIST实现共享总线内存测试自动化
通过西门子EDA- 2022年4月12日-意见:0

汽车、人工智能(AI)和处理器应用程序的新需求导致内存密集型IP的使用增加。这些应用程序的内存密集型ip为高性能进行了优化，它们通常只有一个访问点用于测试内存。Tessent MemoryBIST为使用这个单一接入点或共享总线int提供了一个开箱即用的解决方案。»阅读更多

通过共享总线接口自动化内存测试
通过Harshitha Kodali- 2022年4月12日-意见:0

用于汽车、人工智能(AI)和处理器应用的soc中内存密集型IP的使用正在稳步增加。然而，这些内存较多的IP通常只有一个访问点来测试内存。共享总线体系结构允许通过称为共享总线接口的单个访问点测试和修复IP核内的内存。在这个界面中…»阅读更多

新的内存会增加新的错误
通过布来安梅奥- 2021年9月7日-评论

新的非易失性存储器(NVM)为改变我们在片上系统(soc)中使用内存的方式带来了新的机会，但它们也为确保它们按预期工作带来了新的挑战。这些新的内存类型——主要是MRAM和ReRAM——依赖于独特的物理现象来存储数据。这意味着在它们被释放之前，可能需要新的测试序列和故障模型。»阅读更多

基于卷积紧致的MRAM故障诊断
通过技术文件链接- 2021年9月3日-评论:0

摘要:“自旋转矩磁阻随机存取存储器(STT-MRAMs)正在逐渐取代传统的sram，成为片上系统设计中的最后一级缓存。他们的制造过程包括修整STT-MRAM模块中的参考电阻，以在读取操作期间可靠地确定0和1的逻辑值。通常，片上修剪程序包括多个…»阅读更多

mbist支持的Trim调整以补偿MRAM的热行为
通过技术文件链接- 2021年9月3日-评论:0

摘要:自旋转矩磁随机存取存储器(STT-MRAM)是最有希望取代传统嵌入式存储器(如静态RAM和动态RAM)的候选存储器之一。然而，由于MRAM单元的开/关比很小，工艺变化可能会降低芯片的操作裕度。建议将参考修边作为减少变化对气的影响的方法之一。»阅读更多

Rowhammer漏洞有实用测试吗?
通过布来安梅奥- 2021年6月8日-评论:3

Rowhammer被证明是一个难以解决的DRAM问题。尽管人们仍在努力减轻或消除这种影响，但还没有一种固溶体能够投入批量生产。此外，更激进的流程节点预计会加剧这个问题。在没有解决方案的情况下，测试可能是一种给DRAM制造商和用户提供隔离设备的方法。»阅读更多

防止芯片在测试过程中燃烧
通过布来安梅奥- 2021年3月9日-评论

管理IC测试过程中产生的热量变得越来越困难。如果没有适当的缓解措施，很容易产生如此多的热量，以至于探测卡和芯片实际上可以烧毁。因此，实现温度管理技术正在成为IC测试的关键部分。“我们谈论系统，说系统很好，”高级管理人员阿伦•克里希纳莫蒂(Arun Krishnamoorthy)表示。»阅读更多

汽车测试进入系统
通过布来安梅奥- 2021年2月9日-评论

随着汽车的电气化，仅仅在制造过程的最后阶段对新的电子设备进行彻底的测试是不够的。现在的安全标准要求测试在现场进行，并有测试失败的应急计划。“我们看到汽车半导体供应链对专门针对系统内监控的设计功能的明确需求，……»阅读更多

BiST Vs.在线传感器
通过苏珊兰博- 2020年5月13日-意见:0

随着集成电路进入安全关键应用领域，如汽车的中央大脑，监控芯片制造后的健康状况，包括它如何老化和随着时间的推移而表现，变得越来越重要。面对更长的寿命和越来越多的功能安全规则，系统供应商需要能够预测部件何时会出现故障。但是作为感应汽车…»阅读更多

驯服新奇的NVM非确定性
通过布来安梅奥- 2020年3月10日-评论

新的存储器技术可能具有非确定性特征，增加了测试负担的校准-并且可能需要在其生命周期内重新校准。许多这样的存储器都在开发中，这是对存储级存储器(SCM)技术的研究的结果，这种技术可以弥合闪存等更大、更慢的存储器和更快的DRAM存储器之间的差距。有几种方法……»阅读更多

←老帖子

  • 赞助商

关于

导航

与我们联系

版权所有©2013-2023 SMG |服务条款|隐私政策
Baidu