文摘:
“自旋转矩磁阻随机存取存储器(STT-MRAMs)正在逐渐取代传统的sram，成为片上系统设计中的最后一级缓存。他们的制造过程包括修整STT-MRAM模块中的参考电阻，以在读取操作期间可靠地确定0和1的逻辑值。通常，片上修剪例程由具有不同修剪端口设置的测试算法的多次运行组成。它可能固有地产生大量的不匹配。通过现有的内存内置自检(MBIST)方案来诊断如此大量的错误要么是不可行的，要么是一个耗时且昂贵的过程。在本文中，我们提出了一种新的内存故障诊断方案，能够以有效的方式处理stt - mram特定的错误率。它依赖于内存输出的卷积减少和通过几个输出通道将结果数据连续转移到测试器，这些输出通道通常可用在使用片上测试压缩技术的设计中，例如嵌入式确定性测试。研究表明，使用卷积压缩器处理STT-MRAM输出对于这种类型的应用是一个较好的解决方案，因为它提供了高诊断分辨率，同时比传统MBIST逻辑产生较低的硬件开销。”
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B. Grzelak, M. Keim, A. Pogiel, J. Rajski和J. Tyszer，“基于卷积紧致的MRAM故障诊断”，2021 IEEE欧洲测试研讨会(ETS)， 2021, pp. 1-6, doi: 10.1109/ETS50041.2021.9465464。
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