文摘
“由于金属丝的电阻电网网络,电压降噪声的形式出现在红外下降可能改变基本的输出逻辑电路和可能会影响芯片的可靠性性能。进一步说,有必要处理不同可靠性约束而设计一个强大的电网网络芯片。任何违反这些约束可能增加红外的出现下降。因此,有必要以减少在不违反IR降的可靠性约束。摘要IR降制定作为一个单独的目标是最小化问题大规模变量最小化问题受到不同可靠性约束,如IR降约束、电迁移限制,最小宽度限制,金属面积约束。起初,大规模的最小化问题分为几个子问题使用一个基于分治法分解策略,称为合作共同进化。其次,每个子问题解决了使用自适应差分进化与邻域搜索。最后,电迁移(EM)评估了电网网络使用黑色的方程来演示的乐观预测失效到达时间(TTF)最小化后IR降。”
找到技术链接在这里(作者网站)或在这里(IEEE Xplore), 2018年出版。
戴伊,Sukanta et al。”PGIREM: reliability-constrained IR降最小化和VLSI的电迁移评估电网网络使用合作共同进化。“2018国际工程师协会下属的计算机协会的年度研讨会上超大规模集成(ISVLSI)。IEEE 2018。DOI: 10.1109 / ISVLSI51109.2021.00075。
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