一个仓空头正常化(OSN)方法消除defect-independent反射找到缺陷位置和类型。
时域反射计(TDR)雇佣了电光采样提供优秀的决议在飞秒级别和展品理解脉冲波形,从而允许快速缺陷识别在一个单一的痕迹。然而,它仍然是具有挑战性的识别缺陷的跟踪多个分支;TDR波形是复杂的。一般来说,一个有缺陷的单位特征的TDR波形defect-dependent反射(DDR)和defect-independent反射(DIR)。DDR是由缺陷的一个分支;DIR分支由剩下的好。DDR(不是DIR)需要分析的缺陷;然而,DIR往往压倒波形,使解释困难。在这项工作中,我们使用一个仓空头正常化(OSN)方法来消除DIR。由此产生的DDR立即确定缺陷位置和类型。 The OSN method was verified using both simulation and measurements.
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