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5G毫米波设备测试前端模块开发


本文介绍了一个用于5G毫米波设备测试的前端模块的开发。5G毫米波计划使用到53 GHz频段。我们面临的挑战是优化测试系统的性能,使其达到该频段,包括宽功率范围的EVM性能,并添加新的单端口s参数测量功能。我们描述基本技术…»阅读更多

基于高分辨率时域反射的分支轨迹缺陷快速识别的开-短归一化方法


采用光电采样的时域反射(TDR)在飞秒级提供了出色的分辨率,并显示出可理解的脉冲波形,从而允许在单个痕迹中快速识别缺陷。然而,在多个分支的跟踪中识别缺陷仍然具有挑战性;TDR波形是复杂的。一般来说,有缺陷的单模的TDR波形…»阅读更多

用于自动化测试设备的GaN 8Gbps高速继电器MMIC


研制了一种用于自动测试设备(ATE)的8 Gbps高速继电器MMIC,并进行了评估。金属-绝缘体-半导体结构与氧化氮化钽被用于降低ATE应用的泄漏电流。制造的MMIC显示0.3 nA的泄漏电流,12 GHz的-3 dB带宽,以及出色的8 Gbps信号与18引脚…»阅读更多

用于5G量产测试的无线(OTA)测试插座和处理器集成技术


本文介绍了使用自动化测试设备(ATE)对5G应用的封装天线(AiP)设备进行空中(OTA)测试的插座、测量天线和处理器的集成。文中还讨论了用于近场辐射OTA测试的插座的设计和特点。本文还介绍了基于网络的OTA处理程序集成的结构。»阅读更多

GPU高速图像处理


通过同时使用CPU和GPU,我们提高了图像测试中经常使用的滤波函数的速度。该特性由T2000 CMOS图像传感器解决方案中的图像处理库(IPL)提供。接下来,我们正在开发的新图像处理引擎IPE比现有引擎IPE3(图像处理引擎3)快6倍。作者:Chiezo……»阅读更多

高压通用引脚电子学的发展


目前,自动化测试设备(ATE)需要测试先进工艺中制造的高速/低压振幅器件,以及由引脚电子设备在传统工艺中制造的低速/高压振幅器件。然而,由于贸易…很难同时实现超过1Gbps的操作速度和超过10Vpp的宽I/O范围。»阅读更多

基于电磁铁的STT-MRAM记忆测试系统


我们首次成功开发了一种新的STT-MRAM晶圆级内存测试系统,其中电磁铁与内存测试系统和300毫米晶圆探头相结合。在开发的内存测试系统中,可在300 mm晶圆的10 x 10 mm2上施加高达±800 mT的面外磁场,分布小于2.5%。我们证明了电…»阅读更多

高压直流检测数控技术的发展


近年来,由于与全球环境保护相关的问题,对低功耗器件的需求有所增加。因此,对高压动力装置的需求也随之增加。对此类设备进行试验,需要能够处理高压设备的试验设备(以下简称“试验设备”)。此外,必须缩短试验时间,以减少制造成本。»阅读更多

自动化测试设备制造商的计量学


新技术需要一个有效的鉴定基础设施来确定和鉴定技术规格。计量学是一门根据公认的国际标准确定公认规范设置过程的科学。本文介绍了计量学及其在自动化测试设备业务中的作用和好处。作者:彼得·斯克维拉斯基和拉尔夫·海夫纳。点击她……»阅读更多

基于铁电薄膜平台的光子集成


基于铁电材料的光子集成电路(PICs)由于其独特的光学特性,如大电光系数,有望在许多领域得到应用。在本研究中,设计并制作了一种基于铁电薄膜平台的新型PIC,其中高速光调制器、光斑尺寸转换器(ssc)和可变光衰减器(VOA)…»阅读更多

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