标签:痕迹

仓空头归一化法快速缺陷识别与高分辨率的时域反射计支痕迹
通过效果显著- 07年9月,2022 -评论:0

时域反射计(TDR)雇佣了电光采样提供优秀的决议在飞秒级别和展品理解脉冲波形,从而允许快速缺陷识别在一个单一的痕迹。然而,它仍然是具有挑战性的识别缺陷的跟踪多个分支;TDR波形是复杂的。通常,TDR波形的缺陷单…»阅读更多

互连挑战成长,工具落后
通过布莱恩•贝利- 15,2020 -评论:2

互联越来越多的有问题的设备缩小和移动系统的数据量持续上升。这种限制多次出现在过去,今天再次发生。但是当互连成为一个问题,它不能以同样的方式解决问题是解决其他方面的芯片。通常它导致中断如何t…»阅读更多

Correct-By-Design方法需要仔细定义的约束
通过约翰·麦克米兰——5月14日,2015 -评论:0

自从PCB用法、约束设计的一个重要组成部分。尺寸是什么?铜的重量多少?现在,已经不仅仅是物理尺寸约束。最重要的限制是由微分对的设计要求,小袋,低压设备和高速并行接口。返工的成本高涨傅……»阅读更多

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