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基于高分辨率时域反射的分支轨迹缺陷快速识别的开-短归一化方法


采用光电采样的时域反射(TDR)在飞秒级提供了出色的分辨率,并显示出可理解的脉冲波形,从而允许在单个痕迹中快速识别缺陷。然而,在多个分支的跟踪中识别缺陷仍然具有挑战性;TDR波形是复杂的。一般来说,有缺陷的单模的TDR波形…»阅读更多

7/5/3nm的虚拟制造


Lam Research的计算产品副总裁David Fried深入研究了最先进节点上的虚拟制造,如何在新节点上使用不成熟的过程创建模型,以及如何将来自多个不同孤岛的数据融合在一起。»阅读更多

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