文摘:
“批量诊断和调试在识别由制造缺陷、设计边缘和测试过量引起的系统测试失败方面发挥着关键作用。然而，诊断工具的诊断分辨率常常很差。在本文中，我们提出了通过测试失败聚类和重组来提高诊断分辨率的技术。我们的技术在两个前沿工艺节点的工业设计中得到了验证，并通过有针对性的分析和测试进行了验证。嫌疑人数量平均减少了3.1倍和575.2倍。该技术可以使用现有的商业诊断工具实现，运行时开销低于1%。”
找到这里是技术文件．发表于IEEE 11/24/21。
m - t。吴，C. -S。郭建昌-郭建明。李，C. Nigh和G. Bhargava，“基于测试失败聚类和重组的批量诊断和调试”，2021年IEEE国际测试会议(ITC)， 2021, pp. 251-259, doi: 10.1109/ITC50571.2021.00034。
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