中文 英语

博客评论:12月14日


Siemens EDA的Harry Foster检查了FPGA项目中设计和验证语言的采用趋势,包括测试台方法和断言语言。Cadence的Veena Parthan发现,赋予电动汽车电池作为储能设备的第二次使用寿命可以将其使用寿命延长5至8年,但电动汽车电池缺乏标准化带来了挑战。Synopsys对此……»阅读更多

周回顾:设计,低功耗


Codasip在公司内部推出了一个新的组织,以支持关键应用领域的技术创新的开发和商业化,包括安全、功能安全和AI/ML。“随着半导体规模化正显示出其局限性,显然需要新的思维方式。我们将与大学、研究机构和战略伙伴合作……»阅读更多

博客评论:12月7日


西门子EDA的Harry Foster通过增加各种基于模拟和形式化验证技术的采用,研究了FPGA功能验证过程的不断成熟。Synopsys的Stewart Williams介绍了嵌入式边缘的可伸缩开放架构(SOAFEE)项目,以及它如何使汽车软件开发、测试、虚拟原型和验证……»阅读更多

周回顾:设计,低功耗


瑞萨发布了一系列可配置的时钟发生器,内置晶体振荡器,适用于高端计算、有线基础设施和数据中心设备中的PCIe和网络应用。“不同应用和设备的定时需求可能会有很大差异,并且经常在产品设计周期中发生变化,”计时公关副总裁Zaher Baidas说。»阅读更多

博客评论:11月30日


Cadence的Sangeeta Soni探讨了CXL 1.1和CXL 2.0的配置空间是如何变化的,并讨论了为符合CXL的设备新引入的寄存器,以及在CXL枚举流程中如何发现它们。西门子EDA的Harry Foster通过观察设计和验证工程师花费时间的地方,继续研究FPGA验证工作的趋势。Synopsys对此……»阅读更多

改进并行芯片设计、制造和测试流程


随着芯片行业寻求用更少的工程师优化设计,半导体设计、制造和测试正变得更加紧密地结合在一起,这为提高效率和降低芯片成本奠定了基础,而不仅仅依赖于规模经济。这些不同过程之间的粘合剂是数据,芯片行业正在努力将各种步骤编织在一起…»阅读更多

辐射耐受性不仅仅是火箭科学家的专利


随着技术的发展,来自粒子辐射的软误差越来越受到现场可靠性的关注。这些辐射效应被称为单事件扰动(SEU),由SEU引起的故障频率被称为软误差率(SER)。软错误是由于外部原因造成的失败。相比之下,硬错误是指实际的工艺制造缺陷或电气缺陷。»阅读更多

有机包装设计师过渡到FOWLP和2.5D设计的指南


IC封装设计工具集已经成熟到不仅可以解决经典的塑料、有机和陶瓷封装基板,还可以解决由中间体和芯片设计驱动的硅基板。在大多数情况下,系统和打包团队不必放弃现有的工具集来支持这些设计。事实上,包装设计工具集可以提供额外的…»阅读更多

6个示波器技巧,最大限度地利用你的示波器


这六个技巧涵盖了基本的触发、探测、缩放信号、使用正确的采集模式等,充分利用你的示波器。点击这里阅读更多。»阅读更多

博客评论:11月23日


西门子EDA的Harry Foster通过多个数据点来了解FPGA验证所花费的精力以及对FPGA验证工程师日益增长的需求。Synopsys的ripy Chugh、Himanshu Kathuria和Rohit Kumar Ohlayan认为,设计和测试平台代码的质量对项目的成功至关重要,而linting为团队提供了一个全面的检查过程。»阅读更多

←老帖子
Baidu