如何获得实际CDM使用峰值电流电压水平在IP资格阶段。
电子设备容易受到静电放电(ESD)损伤在其整个生命周期,特别是从硅片加工的完成设备组装时系统。最常用的ESD测试模型的人体模型(HBM)和带电设备模型(CDM)。两种模型评估的ESD敏感设备,然而由于自动化处理的快速增长,制造业和电子设备的组装,清洁发展机制已经成为主要的现实世界中ESD事件模型。本白皮书介绍了CDM ESD事件并解释了IC设计者可以获得实际CDM电压水平的SoC使用峰值电流水平测量接口IP CDM资格阶段。
本白皮书的主题处理:
点击阅读更多在这里。
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
留下一个回复