如何加快测试,特别是大型和复杂的DFT结构设计。
减少硅启动所花费的时间是至关重要的在ICs的客户和保持竞争力。通常,硅启动过程包括将测试模式转换为tester-specific格式和生成测试程序执行自动测试设备(吃)。这个标准硅启动流过于缓慢而昂贵的,特别是对于非常大的DFT设计具有复杂的结构。
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