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标签:扫描链

可逆链诊断
通过西门子EDA- 2021年11月9日-评论:0

对于先进的技术，业界正在看到非常复杂的硅缺陷类型和缺陷分布。结果之一是扫描链诊断变得更加困难。为了提高扫描链诊断的分辨率，测试诊断可以使用新的扫描链测试模式来利用可逆扫描链架构。本文介绍了一种新型的扫描链结构。»阅读更多

数字测试增大或减小
通过布来安梅奥- 2020年12月8日-评论:2

大型数字集成电路正变得越来越难以以时间和成本效益的方式进行测试。特别是AI芯片，由于所需的测试向量量，它具有平铺式架构，这对旧的测试策略造成了压力。在某些情况下，这些芯片太大了，超过了十字线的尺寸，需要将它们缝合在一起。需要新的测试效率……»阅读更多

IC测试:在正确的时间、正确的地点做它
通过罗希特卡普尔- 2019年3月14日-评论

在现实世界中，我们是环境的奴隶。我们所做的决定取决于任何时候可用的资源。在学校的时候，我记得我想出了一个依赖于部分BDD的二进制决策图(BDD)变量排序算法。这是为设计确定BDD的变量顺序的最佳算法吗?可能不会。然而，作为一名大学生，这很容易做到。»阅读更多

考试新司机
通过布莱恩•贝利- 2016年7月28日-意见:0

提到测试设计(DFT)和扫描链，我的脑海中会浮现出更多的东西——游戏规则正在改变。新的应用领域，如汽车，可能会为内置自检(BIST)解决方案注入新的活力，也可以用于制造测试。那么，我们所知道的DFT会成为过去吗?还是会继续发挥作用?Te……»阅读更多

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