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标签:鲁斯仪器

为端到端分析寻找框架
通过安妮Meixner- 2022年7月12日-意见:0

端到端分析可以提高工具购买的收益率和投资回报率，但要获得这些好处，需要通用的数据格式、模具可追溯性、适当的数据粒度级别，以及确定谁拥有哪些数据。正在制定新的标准、指导方针和联盟努力，以消除这些用于分析目的的数据共享障碍。但是工作量需要…»阅读更多

为端到端分析消除障碍
通过安妮Meixner- 2022年6月7日-评论:0

各方聚集在一起，制定了从IC设计和制造到生命周期结束的数据共享指南，为真正的端到端分析奠定了基础。虽然大数据分析的前景很好理解，但通过半导体供应链的数据共享一直受到阻碍，原因是无法在芯片、封装或其他产品的整个生命周期中将数据源链接在一起。»阅读更多

用更好的数据使测试透明
通过苏珊兰博- 2021年9月7日-评论:0

数据对于晶圆厂内的各种工艺都至关重要。挑战在于从不同的设备获得足够一致的数据，然后将其插入到设计、制造和测试流程中，以快速改进工艺并发现难以发现的缺陷模具。正在取得进展。检测和测试行业正处于拥有更动态的方式来访问数据的风口浪尖。»阅读更多

为测试数据设计芯片
通过埃德·斯珀林- 2021年8月10日-评论:0

随着芯片在更关键的应用中使用，收集数据以确定芯片整个生命周期的健康状况变得越来越必要，但能够访问这些数据并不总是那么简单。它需要在复杂的、有时不可预测的、通常是敌对的环境中传递信号，在最好的条件下，这是一个令人生畏的挑战。越来越多的人意识到……»阅读更多

自动集成电路的部分平均测试不够好
通过安妮Meixner- 2021年2月24日-评论:0

零件平均测试(PAT)在汽车行业应用已久。对于某些半导体技术，它仍然是可行的，而对于另一些半导体技术，它已经不够好了。汽车制造商正惴惴不安地准备迎接在先进工艺节点上开发的芯片。到目前为止，他们对供应链的严格控制和对成熟电子工艺的依赖使他们能够增加电子成分。»阅读更多

为什么数据格式会减缓芯片制造的进程
通过苏珊兰博- 2020年10月14日-评论:0

标准测试数据格式(STDF)是一种用于从自动化测试设备中提取测试结果数据的主力数据格式，在35年后正在失去动力。它无法跟上在各种半导体制造工艺中由更多传感器产生的数据的爆炸性增长。STDF最初是由Teradyne在1985年开发的，它是一种二进制格式，可以翻译成ASCII或…»阅读更多

新的数据格式促进测试分析
通过安妮Meixner- 2020年9月8日-评论:0

对更多更好的测试数据的需求正在推动一项重大的标准制定工作，为多年来数据格式最重大的变化之一铺平了道路。这种转变是有充分理由的。来自设备测试的数据正在成为关于限制和流程的测试程序决策的关键元素。从汽车和医疗部件到复杂的、异构的……»阅读更多

名字意味着什么?
通过杰夫Dorsch- 2018年8月6日-评论:0

Test Vision 2020是Semicon West期间每年举办的专业研讨会。该项目原名ATE Vision 2020，专注于自动测试设备和相关主题。在今年的大会上，我们听到了很多关于人工智能、汽车电子和机器学习的话题，这些都是我在2018年参加的每一次科技大会上的主要话题。车间的…»阅读更多

本周回顾:制造与设计
通过马克LaPedus- 2014年1月3日-意见:0

美国政府提出了在开车时禁止使用手机和发短信的建议，这是有充分理由的。根据美国国家公路交通安全管理局的数据，美国每天约有10人死于“分心影响”的车祸。因此，一些公司正在开发可以在开车时屏蔽短信的技术。但根据Strategy analytics的说法……»阅读更多

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