标签:可靠性分析

集成电路可靠性的负担转移走了
通过安Mutschler——6月23日,2022 -评论:0

芯片的可靠性受到更严格的审查,IC-driven系统承担越来越重要和复杂的角色。不管是流浪α粒子,翻转一个内存,或者一些久软件缺陷或潜在的硬件缺陷突然造成问题,现在的芯片行业,以防止这些问题在第一时间,并解决他们当他们做起来……»阅读更多

攷虑任务可靠性监控基于深度数据
通过proteanTecs8月11日,2020 -评论:0

介绍了深度数据可靠性监测方法在先进的电子技术,基于退化作为失败的前兆。通过应用机器学习算法和分析数据由片上监测IPs(代理),IC /系统健康和性能可以不断监测,在产品生命周期的所有阶段。实时退化分析关键标准……»阅读更多

SRAM的预测可靠性在严酷的环境下引起的机械应力
通过弗劳恩霍夫东亚峰会- 07年11月,2018 -评论:0

例子的28 nm SRAM阵列,这项工作提出了一种新颖的可靠性研究考虑外部电路模拟应用机械应力的影响。该方法能够预测的失败造成的压力通过压阻效应。每个单一的稳定SRAM单元模拟使用静态噪声容限。最后,整个阵列的性能…»阅读更多

模拟任务关键型应用程序的可靠性分析
通过节奏——2018年9月26日-评论:0

迅速增加在汽车电气内容推动革命的需要模拟集成电路(IC)设计方法。相比,消费电子产品设计、关键任务applications-industrial设计、医疗、空间和automotive-requires不同的可靠性分析方法。我们将探索如何可靠性分析需要改变……»阅读更多

谁负责晶体管老化模型?
通过安Mutschler7月- 13,2017 -评论:0

虽然有很多方式去和晶体管老化可靠性分析,都是在很大程度上依赖于晶圆厂和铸造厂提供老化模型。情况也不是完全清楚半导体生态系统中,因为经典的设计和制造之间的墙那边的心态依然存在。不幸的是这堵墙是双向的。不仅……»阅读更多

晶体管级验证返回
通过布莱恩•贝利1月- 13,2016 -评论:1

几十年前,设计师所做的晶体管级验证,但是他们很乐意告别时标准电池提供隔离的门电路级和库提供了所需的所有详细信息,如时间。一些专门的人继续使用这项技术来提供这些模型和库和最激进的设计想生态…»阅读更多

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