中文 英语

逻辑芯片,自愈


如果一个单一的故障就能杀死一个逻辑芯片,这对复杂的多芯片系统的寿命来说不是一个好兆头。芯片的过时不仅仅是业界为了卖出更多芯片而采取的策略。这是一个物理事实,芯片不会持续超过几年,特别是如果过热,并受到高于它所能承受的电压。测试行业在发现生产过程中的缺陷方面做得很好。»阅读更多

通过低成本、低分辨率的快速参数测试估算MOSFET泄漏


介绍了一种利用低成本、低分辨率的快速并行参数测试估计MOSFET离态电流亚阈值分量的方法。该方法测量阈下斜率,并使用它来估计ioff。单个晶体管的测量结果显示,测量的ioff和用我们的方法估计的ioff之间有很好的一致性。对于一个简单的pad-efficient tran…»阅读更多

从不同角度看待测试


[getentity id="22816" e_name="Advantest"]的执行顾问Wilhelm Radermacher与《半导体工程》一起讨论了快速的市场变化、先进的封装方法和日益复杂的测试策略和设备的影响。以下是那次谈话的节选。SE:当我们进入新的市场时,使用模式和设备上的压力是不同的……»阅读更多

Baidu