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通过扫描测试

用DFT对于复杂的soc Tessent流扫描网络。

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总线通过扫描数据将测试交付和核心级DFT要求所以核心级压缩配置可以定义完全独立于芯片I / O限制。选择分组内核并发测试编程,而不是天生的。这个概念可以显著降低DFT规划和实施工作。

扫描测试的通过西门子解决方案交付模式,Tessent流扫描网络(SSN),是一个重大进步DFT今天复杂的出类拔萃。它使同步测试任意数量的核心与几个芯片级针,加上减少测试时间和测试数据量。SSN, DFT工程师有一个真正的SoC DFT解决方案实现工作之间没有妥协和制造测试成本。介绍了基本组件的SSN和它的使用提出了简短的案例研究。

在复杂的soc SSN解决扫描分布挑战
今天的DFT工程师面临挑战与传统pin-mux扫描测试方法,包括:

  • 规划和布局
  • 有效处理相同的内核
  • 基于题目与桥台设计

Tessent流扫描网络(SSN)解决这些挑战的解耦测试交付和DFT核心级的需求。SSN,压缩和扫描核心渠道的数量决定基于结果在最紧凑模式设置,核心本身。

SSN实现流是基于Tessent壳流分层设计。SSN完全支持Tessent TestKompress Tessent诊断,并且可以与其他Tessent DFT技术,如TessentMemoryBIST和Tessent LogicBIST。

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