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OTA片上计算,克服有线NoC架构的瓶颈


来自瑞士苏黎世IBM研究院和西班牙巴塞罗那加泰罗尼亚理工大学的研究人员发表了一篇名为“用于可扩展内存超维计算的无线片上通信”的新研究论文。摘要:“超维计算(HDC)是一种新兴的计算范式,它使用非常长的随机向量(aka hyp…»阅读更多

使用天线定期校准以确保OTA系统的持续性能


不管你看不见,天线对我们这个互联世界的方方面面都至关重要。在任何空中应用中,通信、导航、雷达等信号质量在很大程度上依赖于发射和接收天线的性能。此外,当测试当今任何电子设备的电磁干扰(EMI)和电磁兼容时,…»阅读更多

用于5G量产测试的无线(OTA)测试插座和处理器集成技术


本文介绍了使用自动化测试设备(ATE)对5G应用的封装天线(AiP)设备进行空中(OTA)测试的插座、测量天线和处理器的集成。文中还讨论了用于近场辐射OTA测试的插座的设计和特点。本文还介绍了基于网络的OTA处理程序集成的结构。»阅读更多

SoC验证从预制到空中更新


最近对系统基础设施的新攻击突出表明,如果忽视适当的预防措施,供应链中的硬件漏洞不仅是可能的,而且是不可避免的。整个供应链的验证是必要的,以确保硬件的安全性。开始早在预制阶段,漏洞,如果不加以检查,可以是一个o…»阅读更多

RF SiP混合系统级测试


近年来,物联网的普及将注意力集中在低功耗无线应用上。结合蓝牙低能耗(BLE)收发器、mcu和电源管理电路等功能的物联网模块正在成为系统级封装(SiP)甚至单芯片设备。这种设备增加了对可以在短时间内测量它们的大规模生产测试环境的需求。»阅读更多

自动IC更新的好与坏


随着越来越多复杂的电子设备被添加到汽车中,这些设备的寿命延长到十年或更长,让汽车保持足够的更新以避免问题变得越来越困难。现代汽车充满了电子设备。事实上,现代汽车中使用的电子设备的价值预计在未来10年将翻一番,到2030年将增长到4690亿美元……»阅读更多

在大批量生产中测试AiP模块


远场和辐射近场是使用自动化测试设备(ATE)[1]对封装天线(AiP)模块进行大容量空中(OTA)测试的两种选择。在本文中,我们定义了一个待测AiP设备(DUT),并检查了两种方法的测量结果。正确评估ATE OTA测量设置需要AiP模块。我们……»阅读更多

合并验证和测试


虽然功能验证和测试的学科服务于不同的目的,但它们的历史曾经紧密交织在一起。最近的安全和安全监控需求,加上嵌入设备的功能,使它们再次紧密结合在一起,但它们能否成功合作,在两者之间都取得改进呢?实现这一目标可能很困难。三个阶段…»阅读更多

汽车工业正在改变


在最初的自动驾驶活动爆发之后,汽车生态系统重新组合,重新评估其目标,现在准备开始部署现代开发方法和前瞻性汽车架构所实现的新技术。疫情影响了2020年的汽车销售,但也给了原始设备制造商喘息的机会。对其他汽车制造商的声明感到恐慌……»阅读更多

5G晶圆量产的新测试方法


为了提供这种变化所需要的芯片,在晶圆测试中会有大量变化的需求,这些需求来自于这些架构要求。Form Factor与英特尔合作研究这些变化,并测试了一个新测试方法的例子。在与英特尔的联合合作中,他们为5G rf开发了一种测试方法…»阅读更多

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