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可见性架构的最佳实践开发计划


当涉及到数据监测,确保适当的访问网络数据是最重要的事情你可以做。失踪,错误的数据将减缓问题的分析您的安全监控和工具。它也可能导致错误的结论,这些工具。反过来,这可能导致错过了安全威胁,假阳性的安全威胁和网络障碍,和…»阅读更多

小说电子束技术检查和监控


在本文中,我们报告一个先进的电子束缺陷检查工具(eProbe®250)和Design-for-Inspection™(DFI)系统已经被PDF构建和部署解决方案4海里FinFET技术节点。这个工具有一个非常高的吞吐量,允许内联检验纳米级缺陷的最先进的技术节点。我们还展示了eProbe申请…»阅读更多

Autoencoder-Based描述被动IEEE 802.11链接水平测量


无线网络是不可或缺的在今日工业制造和自动化。由于恶劣的信号传播条件以及无线网络共存,传输失败导致严重的应用程序故障往往难以诊断。远程无线监控系统故障排除此类故障是非常有用的工具。然而,完整性……»阅读更多

使下一步在集成电路测试和监控


产品生命周期管理(PLM)跨许多行业是一个成熟的概念,旨在管理整个生命周期的产品从开始到设计、实现、部署、和现场服务,一直到临终最终处置等活动。最近,这些原则被应用的半导体行业因为电子继续p…»阅读更多

多层深数据性能监视和优化


结合功能和参数监测复杂soc的现实世界的行为提供了一个强大的新方法,在开发过程中促进性能优化领域,提高了安全性和安全,使预测维修预防领域的失败。proteanTecs“通用芯片遥测(节点)和西门子Tessent嵌入式分析complementa…»阅读更多

芯片好赌你的生活


半导体工程坐下来讨论汽车电子可靠性Jay Rathert高级主管在解放军的战略合作;先进的解决方案副总裁丹尼斯Ciplickas PDF的解决方案;尤兹巴鲁克,副总裁和总经理在OptimalPlus汽车业务单元;加卡梅尔,总经理proteanTecs的汽车部门;安德烈van de……»阅读更多

避免悲观情绪有更好的知识


的产品开发面临着真正的挑战是硅技术发展的步伐开始放缓。今天,我们将最挤出晶体管物理,这本质上是来自60岁的CMOS技术。维持摩尔定律的速度,据预测,在2030年我们将需要六分之一的晶体管电流大小。减少晶体管年代……»阅读更多

任务配置文件


领域的电子系统,任务轮廓一直以来的一个关键概念的科学考试的可靠性。其确切含义随时间和工业使用它。特别是在日益数字化和网络在物联网的背景下所带来的机遇,任务的主题的资料……»阅读更多

集成软件CompactRIO


嵌入式软件工具现在支离破碎。这迫使开发人员浪费时间整合ide编译器、调试器,跟踪工具,工具箱分析器和其他不同的碎片。然后他们让这些作品相互合作。此外,这些开发人员必须花数月,测试和调试的所有依赖项的操作系统,中间件,博…»阅读更多

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