标签:泄漏

硬件安全:新的数学模型来量化信息流动在数字电路不同的攻击模型(亚琛工业)
通过技术论文链接2022年12月- 06 -评论:0

一个新的技术论文题为“定量信息流对硬件:推进攻击景观”是亚琛工业大学的研究人员发表的。文摘:“安全仍然是一个事后的想法在现代电子设计自动化(EDA)工具,它专注于提高性能和减少芯片的大小。一般来说,安全分析是由手,l…»阅读更多

dvf值得吗?
通过布莱恩•贝利9月- 10,2020 -评论:2

几乎所有的设计已成为节能和被迫考虑每一个节电技术,但并不是所有人产生预期的结果。此外,他们可以添加到很大的复杂性的设计,增加了时间去tapeout和增加了成本。动态电压和频率缩放(dvf)就是这样一个权力和节能技术现在被…»阅读更多

识别DRAM失败造成的泄漏电流和寄生电容
通过Taeyon (TY)哦2020年2月- 03(-评论:0

泄漏电流是DRAM设计设备故障的主要原因,从20纳米技术节点。泄漏电流在DRAM设计问题可能导致可靠性问题,即使没有明显的结构异常底层设备。泄漏电流在DRAM设备设计已成为一个重要的组成部分。图1 (a) DRAM内存单元,(b)胃肠道……»阅读更多

GDDR6钻取:应用程序、权衡和规格
通过埃德·斯珀林11月- 15,2019 -评论:0

高级产品营销主管弗兰克铁IP核,Rambus演习权衡选择不同的DRAM版本,在GDDR6符合设计与其他类型的DRAM,和如何使用不同的记忆在不同垂直市场。»阅读更多

用更少的力量在同一节点
通过布莱恩•贝利3月- 14,2019 -评论:0

要下一个节点被最有效的方法来减少权力,但这不再是真正的或可取的越来越多的半导体行业。所以现在最大的问题是如何减少权力大小,同时保持相同的节点。理解如何使用力量后,芯片设计师和工厂都有技术可以减少功耗。晶圆厂马金…»阅读更多

权力问题上升为新的应用程序
通过安Mutschler- 1月21日,2019 -评论:0

管理权力芯片正变得更加困难在范围广泛的应用程序和流程节点,迫使芯片制造商和系统公司重新考虑他们的权力策略和解决问题比过去更早。虽然力量一直是主要集中在移动领域,权力相关问题现在蔓延远远超出手机和笔记本电脑。有几个是……»阅读更多

热在7/5nm对可靠性的影响
通过埃德·斯珀林- 9月28日,2018 -评论:0

主任Haroon Chaudhri运行分析融合在Synopsys对此,谈到为什么热分析转移的设计周期和为什么这是如此重要在最先进的流程节点。https://youtu.be/wjkrEFLb2vY»阅读更多

快速估算MOSFET漏从低成本、低分辨率参数测试
通过PDF的解决方案——7月19日,2018 -评论:0

MOSFET的方法估算subthershold组成部分断开的电流(Ioffs)使用低成本、低分辨率的快速并行参数检验。这种方法测量阈下的斜率和用它来估计Ioffs。测量单个晶体管显示测量Ioffs之间一个很好的协议,Ioffs估计使用我们的方法。对于一个简单pad-efficient tran……»阅读更多

22纳米工艺
通过埃德·斯珀林——7月19日,2018 -评论:0

杰米•谢弗产品线管理高级主管GlobalFoundries,谈到如何FD-SOI相比之下大部分技术,未来将在那里使用和为什么,叠加选项。https://youtu.be/2i7GJRxcNRs»阅读更多

系统级建模扎根
通过安Mutschler2018年5月- 10 -评论:0

权力、热老化和他们的联合效应和可靠性,越来越关键变量芯片的设计将使用在各种各样的新的和现有的市场。随着更多的处理优势,传感器的数据生成一个海啸,有许多因素需要考虑的设计。一方面,权力预算需要反映th……»阅读更多

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