随着半导体几何形状变得越来越小,芯片或封装的复杂性越来越高,系统级别测试(SLT)变得至关重要。SLT正在测试一个被测设备(DUT),因为它在最终使用系统中使用,只是使用它,而不是像传统的自动化测试设备(ATE)那样创建测试向量。测试仍然是用不同的方式编写的……
Teradyne系统级测试部门的系统架构师Peter Reichert讨论了什么是系统级测试,以及它如何提高最终产品质量和缩短上市时间。
点击在这里下载论文。
Imec的计算路线图;美国对华为为目标;美印。特遣部队;China-Bolivia交易;布鲁克揭开了白光干涉测量系统;三星量化可持续性;麦肯锡指出了美国晶圆厂建设的问题;发光二极管。
留下回复